《硅片薄膜厚度的測試 光學(xué)反射法》意見征求(2020-11-10)

為了防止在外延過程中的自摻雜，通常會在硅片背表面生產(chǎn)一層氧化膜作為背封膜，而膜厚及其均勻性以對多晶層的質(zhì)量及均勻性會直接影響集成電路后續(xù)工藝的成品率，故而需要對該工藝進(jìn)行有序規(guī)范…[詳情]

少子壽命測試儀可對硅片進(jìn)行測量(2018-08-06)

數(shù)字式硅晶體載流子復(fù)合壽命測試儀/少子壽命測試儀（鑄造多晶）型號：KDKLT-200貨號：ZH8204產(chǎn)品簡介:100C型200型的的最大區(qū)別只是紅外激光管的功率大了一倍，加了個紅外地光照破除陷進(jìn)效應(yīng)τ:1～…[詳情]

硅片超聲波清洗技術(shù)(2013-10-21)

在半導(dǎo)體材料的制備過程中，每一道工序都涉及到清洗，而且清洗的好壞直接影響下一道工序，甚至影響器件的成品率和可靠性。由于ULSI集成度的迅速提高和器件尺寸的減小，對于晶片表面沾污的要求更加嚴(yán)…[詳情]

碳化硅制砂機(jī)1晶硅片生產(chǎn)專用材料(2013-07-16)

碳化硅是光伏產(chǎn)業(yè)鏈上游環(huán)節(jié)——晶硅片生產(chǎn)過程中的專用材料，受光伏行業(yè)發(fā)展的帶動，碳化硅行業(yè)通過產(chǎn)品結(jié)構(gòu)升級和下游需求的擴(kuò)展帶來了一些機(jī)會。在不同的領(lǐng)域?qū)μ蓟璧牧６纫笫怯小?a href='http://bhmbl.cn/news/d780.html' target='_blank' class='iii'>[詳情]