產(chǎn)品展示
所有產(chǎn)品：共搜索到16 個(gè)符合條件的產(chǎn)品
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹 |
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熱重紅外聯(lián)用TG-IR測(cè)試服務(wù) | 熱重紅外聯(lián)用（TG-IR）：通過熱重分析儀對(duì)樣品進(jìn)行加熱，樣品在加熱過程中燃燒分解出氣體等物質(zhì)，這些物質(zhì)被輸入到紅外分析儀中，加以識(shí)別。 |
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激光導(dǎo)熱儀測(cè)試服務(wù) | 激光導(dǎo)熱儀是一種用于物理學(xué)、工程與技術(shù)科學(xué)基礎(chǔ)學(xué)科、材料科學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，（1）可測(cè)量薄膜樣品的徑向熱導(dǎo)性能；（2）用于測(cè)試樣品上表面溫度變化的紅外傳感器視場(chǎng)，可根據(jù)樣品的大小進(jìn)行調(diào)節(jié) |
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比熱容（DSC藍(lán)寶石法）測(cè)試 | 比熱是單位質(zhì)量的物質(zhì)改變單位溫度時(shí)所吸收或放出的能力，單位J/g℃；比熱反應(yīng)了物質(zhì)隨溫度變化的程度。藍(lán)寶石法測(cè)試比熱容 |
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差示掃描量熱儀（DSC）測(cè)試 | 差示掃描量熱儀 ，測(cè)量的是與材料內(nèi)部熱轉(zhuǎn)變相關(guān)的溫度、熱流的關(guān)系，應(yīng)用范圍非常廣，特別是材料的研發(fā)、性能檢測(cè)與質(zhì)量控制。 |
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掃描電子顯微鏡檢測(cè)測(cè)試服務(wù) | SEM能譜一般只能測(cè)C（含C）以后的元素，（B元素也能做，但是不準(zhǔn)，不建議做）如果需要打能譜，需要備注好測(cè)試位置以及能譜打哪些元素，需要注意的是制樣時(shí)待測(cè)元素不能與基底成分有重合 |
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原子力顯微鏡AFM檢測(cè)服務(wù) | AFM可以對(duì)樣品表面形態(tài)、納米結(jié)構(gòu)、鏈構(gòu)象等方面進(jìn)行研究，獲得納米顆粒尺寸，孔徑，材料表面粗糙度，材料表面缺陷等信息，同時(shí)還能做表面結(jié)構(gòu)形貌跟蹤 |
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環(huán)境掃描電子顯微鏡檢測(cè)服務(wù) | 形貌、點(diǎn)掃、線掃、mapping。環(huán)境掃描測(cè)試的樣品無(wú)需干燥，潮濕，含水樣品可直接上機(jī)測(cè)試；環(huán)境掃描由于真空度低，那分辨率也會(huì)一起降低，能譜準(zhǔn)確性也會(huì)隨著降低 |
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球差校正透射電子顯微鏡檢測(cè)測(cè)試服務(wù) | 球差一般是拍樣品邊緣幾個(gè)nm的區(qū)域，所以對(duì)于原子相樣品團(tuán)聚不會(huì)影響到拍攝效果，但樣品本身很厚就會(huì)有影響，這個(gè)與超聲分散的效果沒有關(guān)系，與樣品本身的厚薄有關(guān) |
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透射電鏡TEM檢測(cè)測(cè)試服務(wù) | 原則上電鏡不拍磁性樣品。但是不同的設(shè)備，測(cè)試?yán)蠋煵煌臉悠诽幚斫?jīng)驗(yàn)狀況下，對(duì)所拍樣品中磁性強(qiáng)弱的接受度不同，所以在預(yù)約時(shí)候請(qǐng)大家務(wù)必如實(shí)填寫樣品是否含磁及磁性的強(qiáng)弱 |
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熱機(jī)械分析儀檢測(cè)測(cè)試服務(wù) | 可測(cè)試材料：金屬、陶瓷、無(wú)機(jī)、有機(jī)等材料，還可以用來研究高分子材料的玻璃化溫度、流動(dòng)溫度、相轉(zhuǎn)變點(diǎn)、楊氏模量、應(yīng)力松弛等 |
