原子力顯微鏡AFM檢測服務(wù)的簡單介紹

原子力顯微鏡AFM檢測服務(wù)的詳細(xì)信息

成像模式：1、接觸模式：針尖與樣品表面距離小，利用原子間的斥力；可獲得高解析度圖像；樣品變形，針尖受損；不適合于表面柔軟的材料；2、非接觸模式：針尖距離樣品5-20nm,利用原子間的吸引力，不損傷樣品表面，可測試表面柔軟樣品；分辨率低，有誤判現(xiàn)象；3、輕敲模式：探針在Z軸維持固定頻率振動，當(dāng)振動到谷底時與樣品接觸，對樣品破壞小，分辨率幾乎同接觸模式相同。

測試項(xiàng)目：a.粉末，溶液，塊狀樣品的表面形貌，厚度，粗糙度測試b.生物/纖維樣品的表面形貌c.相圖d.PFM（壓電力顯微鏡）, EFM（靜電力顯微鏡）, KPFM（表面電勢）, MFM（磁力顯微鏡）, C-AFM/PeakForce TUNA（導(dǎo)電力顯微鏡），楊氏模量/模量分布，力曲線，液下，變溫等特殊模式。

1、表面形貌和表面粗糙度：AFM可以對樣品表面形態(tài)、納米結(jié)構(gòu)、鏈構(gòu)象等方面進(jìn)行研究，獲得納米顆粒尺寸，孔徑，材料表面粗糙度，材料表面缺陷等信息，同時還能做表面結(jié)構(gòu)形貌跟蹤（隨時間，溫度等條件變化）。也可對樣品的形貌進(jìn)行豐富的三維模擬顯示，使圖像更適合于人的直觀視覺。

2、精準(zhǔn)定位如：納米片厚度/臺階高度：什么是精準(zhǔn)定位？就是需要花時間去一點(diǎn)點(diǎn)找這個地方。在半導(dǎo)體加工過程中通常需要測量高縱比結(jié)構(gòu)，像溝槽和臺階，以確定刻蝕的深度和寬度。這些在SEM 下只有將樣品沿截面切開才能測量，AFM 可以對其進(jìn)行無損的測量。AFM在垂直方向的分辨率約為0.1 nm，因此可以很好的用于表征納米片厚度。

3、相圖：作為輕敲模式的一項(xiàng)重要的擴(kuò)展技術(shù)，相位模式是通過檢測驅(qū)動微懸臂探針振動的信號源的相位角與微懸臂探針實(shí)際振動的相位角之差（即兩者的相移）的變化來成像。引起該相移的因素很多，如樣品的組分、硬度、粘彈性質(zhì)，模量等。簡單來說，如果兩種材料從AFM形貌上來說，對比度比較小，但你又非常想說明這是在什么膜上長的另外一種，這個時候可以利用二維形貌圖+相圖來說明（前提是兩種材料的物理特性較為不同，相圖有明顯對比信號才行）

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