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二次元影像測(cè)量儀小知識(shí)(2019-03-14)

影像式精密測(cè)繪儀系列產(chǎn)品，克服了傳統(tǒng)投影儀的不足，能將被測(cè)物體影像直接輸入到計(jì)算機(jī)，使其數(shù)字化，在電腦或顯示屏上生成畫面讓您更直觀、簡(jiǎn)便、清晰的了解產(chǎn)品的形狀、大小及尺寸。同時(shí)，您可以將所…[詳情]

微波消解法| 茶葉中錳含量測(cè)量的樣品前處理(2019-03-14)

【前言】茶葉是人們?nèi)粘Ｉ钪邢矏鄣膫鹘y(tǒng)飲品；一般而言，茶類含錳是比較豐富的，如磚茶(小)100g含錳125.5mg；珠茶100g含錳63.37mg；紅茶100g含錳49.8mg;綠茶100g含錳32.6mg;花茶100g含錳16.95mg;鐵觀…[詳情]

三維表面測(cè)量技術(shù)在燃料電池的應(yīng)用(2019-03-13)

生產(chǎn)線的功能性表面的無(wú)損分析光學(xué)三維表面測(cè)量技術(shù)為高效、大容量的燃料電池的發(fā)展做出了重要貢獻(xiàn)。決定其效率的是其內(nèi)部微觀幾何形狀和氫與空氣的流動(dòng)通道。此外，該技術(shù)有助于燃料電池小型化。Na…[詳情]

工具測(cè)量顯微鏡有哪些應(yīng)用及特點(diǎn)？(2019-03-12)

萬(wàn)能工具顯微鏡是機(jī)械制造業(yè)、電子制造業(yè)、計(jì)量院所廣泛使用的一種多用途計(jì)量?jī)x器?？梢杂脕頊y(cè)量量程內(nèi)的各種零件的尺寸、形狀、角度和位置。儀器采用光柵數(shù)顯技術(shù)對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，可使用影像…[詳情]

氣泡式水位計(jì)的測(cè)量原理和采集傳輸(2019-03-08)

氣泡式水位計(jì)測(cè)量精度高，免氣瓶，免測(cè)井，免維護(hù)，抗振動(dòng)，壽命長(zhǎng)，特別適用于流動(dòng)水體、大中小河流等水深比較大的場(chǎng)合。氣泡式水位計(jì)具有安裝簡(jiǎn)單，操作、組網(wǎng)靈活，是遙測(cè)系統(tǒng)中的水位監(jiān)測(cè),尤其是無(wú)井水…[詳情]

API激光跟蹤儀對(duì)大型拼裝組件的測(cè)量指導(dǎo)方案(2019-03-08)

隨著國(guó)家核工業(yè)、化工工業(yè)、橋梁建設(shè)的不斷發(fā)展，對(duì)大型鋼結(jié)構(gòu)的現(xiàn)場(chǎng)拼裝測(cè)量的精度要求越來越高，同時(shí)對(duì)效率和自動(dòng)化程度的要求也越來越高，而通常所用的經(jīng)緯儀、全站儀雖然能夠滿足大尺寸的測(cè)量，但…[詳情]

文物藝術(shù)品利用非接觸式3D測(cè)量如何鑒定(2019-03-08)

具有歷史價(jià)值藝術(shù)品的非接觸形貌測(cè)量珍貴的文物、雕塑和藝術(shù)品容易腐爛或被盜。NanoFocus非接觸式3D測(cè)量系統(tǒng)可以測(cè)量亞微米范圍內(nèi)的粗糙度、光譜顏色信息和其他相關(guān)特征。這些數(shù)據(jù)就像指紋一樣對(duì)應(yīng)…[詳情]

淺析壓力校驗(yàn)儀微壓測(cè)量的幾種技巧方法(2019-03-07)

淺析壓力校驗(yàn)儀微壓測(cè)量幾個(gè)技巧方法壓力校驗(yàn)儀的微壓測(cè)量是難點(diǎn)。微壓的主要特點(diǎn)是壓力量程小，受環(huán)境影響很大。那么針對(duì)微壓測(cè)量，壓力校驗(yàn)儀主要進(jìn)行哪幾方面的工作呢？1、微壓傳感器必須進(jìn)行溫度…[詳情]

測(cè)量孔板流量計(jì)時(shí)出現(xiàn)誤差怎么解決(2019-03-07)

為了提高孔板流量計(jì)在天然氣計(jì)量的準(zhǔn)確度，分析和掌握測(cè)量裝置本身在使用過程中產(chǎn)生誤差的原因是計(jì)量工作中必不可少的一項(xiàng)重要工作。1孔板安裝不正確孔板的尖銳一側(cè)應(yīng)該迎著流體流向?yàn)槿肟诙?，呈喇?a href='http://bhmbl.cn/news/d234498.html' target='_blank' class='iii'>[詳情]

影響覆層測(cè)厚儀測(cè)量值的因素及解決方法(2019-03-07)

影響覆層測(cè)厚儀測(cè)量值的因素及解決方法使用測(cè)厚儀與使用其他儀器一樣，既要掌握儀器性能，也需了解測(cè)試條件。使用磁性原理和渦流原理的覆層測(cè)厚儀都是基于被測(cè)基體的電、磁特性及與探頭的距離來測(cè)量…[詳情]