真空探針臺的簡單介紹可應(yīng)用于低溫或高溫真空環(huán)境下被測樣品的電學(xué)性能測試分析,如:半導(dǎo)體/微電子,電子,機(jī)電,物理,化學(xué),材料,光電,納米,微機(jī)電/MEMS,生物芯片,航空航天等科學(xué)研究領(lǐng)域,以及IC設(shè)計/制造/測試/封真空探針臺的詳細(xì)信息高低溫真空探針臺KT-Z1604TZ 真空探針臺可實現(xiàn)高真空環(huán)境下的高溫及低溫電學(xué)性能測量,真空腔一體成型,具有設(shè)計合理,真空度穩(wěn)定,溫控精度及機(jī)械精度高等特點(diǎn);根據(jù)測試溫度范圍不同,可單選高溫或低溫等相應(yīng)組件,溫度可達(dá)到400℃,低溫部分采用液氮或液氦冷卻組件,溫度可低至-190℃,;真空系統(tǒng)可選機(jī)械泵或分子泵系統(tǒng),真空度可達(dá)到10-3Torr或10-6Tor。 高低溫真空探針臺應(yīng)用: 可應(yīng)用于低溫或高溫真空環(huán)境下被測樣品的電學(xué)性能測試分析,如:半導(dǎo)體/微電子,電子,機(jī)電,物理,化學(xué),材料,光電,納米,微機(jī)電/MEMS,生物芯片,航空航天等科學(xué)研究領(lǐng)域,以及IC設(shè)計/制造/測試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產(chǎn)制造領(lǐng)域。
高低溫真空探針臺KT-Z1604TZ參數(shù)
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