柵極電阻/電容測(cè)試儀的簡單介紹華科智源結(jié)電容測(cè)試儀,可以測(cè)試MOS管,IGBT,SIC器件的柵極電阻和柵極電容,包含Ciss 輸入電容 Coss 輸出電容 Crss 反向電容,Rg等參數(shù),可以單點(diǎn)測(cè)試,也可以掃描測(cè)試曲線;柵極電阻/電容測(cè)試儀的詳細(xì)信息![]() 可測(cè)參數(shù): Ciss/Coss/Crss/Rg MOS管結(jié)電容測(cè)試 可測(cè)器件: IGBT,二極管,氮化鎵、碳化硅 MOSFET 等 測(cè)試頻率:1MHz 測(cè)試電壓范圍:Vds 0~1200V,Vgs ±25V 信號(hào)電壓范圍:1mV~1000mV Rg 范圍:≤300Ω 測(cè)試精度:0.01pf 華科智源柵極電阻/柵極電容測(cè)試儀特點(diǎn): 1,測(cè)試速度快。 2,可點(diǎn)測(cè)和掃描曲線。 3,測(cè)試精度高,測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定精準(zhǔn)。 4,可隨時(shí)保存數(shù)據(jù)和波形,可直接生成規(guī)格書用的圖片或 CSV 描點(diǎn)文件。 以上是柵極電阻/電容測(cè)試儀的詳細(xì)信息,如果您對(duì)柵極電阻/電容測(cè)試儀的價(jià)格、廠家、型號(hào)、圖片有任何疑問,請(qǐng)聯(lián)系我們獲取柵極電阻/電容測(cè)試儀的最新信息 |