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鎢舟加熱真空蒸鍍儀 鎢舟加熱真空蒸鍍儀 鎢舟加熱真空蒸鍍儀,觸摸屏控制,可調(diào)節(jié)功率和蒸鍍時(shí)間,配有樣品擋板能精確控制鍍膜時(shí)間,保護(hù)樣品
小型真空探針臺(tái) 太陽能電池測(cè)試夾具 小型真空探針臺(tái) 太陽能電池測(cè)試夾具 小型真空探針臺(tái) 太陽能電池測(cè)試夾具,可預(yù)留接口以備安裝電子閥及流量計(jì)之用,充入其它氣體使用,溫度范圍為77.15K至673.15K(-196攝氏度到400攝氏度)
常溫半導(dǎo)體測(cè)試 氣敏測(cè)試 大氣探針臺(tái) 常溫半導(dǎo)體測(cè)試 氣敏測(cè)試 大氣探針臺(tái) 常溫半導(dǎo)體測(cè)試 氣敏測(cè)試 大氣探針臺(tái)是一種用于半導(dǎo)體器件電性能測(cè)試的重要設(shè)備,通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)、高性能的探針針頭和電性能測(cè)試儀器組成。探針臺(tái)可以對(duì)半導(dǎo)體芯片、集成電路和其他微電子器件進(jìn)行直接的電
環(huán)境敏感性材料真空測(cè)試腔體 環(huán)境敏感性材料真空測(cè)試腔體 該腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口和2-4芯信號(hào)真空電極,做多可選用6芯電極。使用時(shí)將需檢測(cè)的器件固定在加熱臺(tái)上,需自行將引入腔體的信號(hào)線連接到測(cè)試器件的引腳處,外部信號(hào)線連接測(cè)試儀器來測(cè)試電子信號(hào)。
電信號(hào)測(cè)試真空腔體 電信號(hào)測(cè)試真空腔體 該腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口和2-4芯信號(hào)真空電極,做多可選用6芯電極。使用時(shí)將需檢測(cè)的器件固定在加熱臺(tái)上,需自行將引入腔體的信號(hào)線連接到測(cè)試器件的引腳處,外部信號(hào)線連接測(cè)試儀器來測(cè)試電子信號(hào)。
電信號(hào)測(cè)試真空腔體 電信號(hào)測(cè)試真空腔體 電信號(hào)測(cè)試真空腔體主要用于氣體敏感材料或其他對(duì)環(huán)境敏感性材料中的電信號(hào)測(cè)試。測(cè)試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺(tái),臺(tái)面為50x50mm,臺(tái)面最高可升溫到最高350℃。
科研實(shí)驗(yàn)室小型高溫樣品鍍膜設(shè)備 科研實(shí)驗(yàn)室小型高溫樣品鍍膜設(shè)備 科研實(shí)驗(yàn)室小型高溫樣品鍍膜設(shè)備,觸摸屏控制,可調(diào)節(jié)功率和蒸鍍時(shí)間,配有樣品擋板能精確控制鍍膜時(shí)間,保護(hù)樣品
鈣鈦礦蒸鍍薄膜檢測(cè)設(shè)備 鈣鈦礦蒸鍍薄膜檢測(cè)設(shè)備 鈣鈦礦蒸鍍薄膜檢測(cè)設(shè)備,觸摸屏控制,可調(diào)節(jié)功率和蒸鍍時(shí)間,配有樣品擋板能精確控制鍍膜時(shí)間,保護(hù)樣品
小型高溫蒸鍍儀鈣鈦礦蒸鍍 小型高溫蒸鍍儀鈣鈦礦蒸鍍 鈣鈦礦蒸鍍薄膜檢測(cè)設(shè)備,觸摸屏控制,可調(diào)節(jié)功率和蒸鍍時(shí)間,配有樣品擋板能精確控制鍍膜時(shí)間,保護(hù)樣品
金屬鍍膜磁控濺射薄膜監(jiān)測(cè) 金屬鍍膜磁控濺射薄膜監(jiān)測(cè) 金靶材鍍膜磁控濺射,7寸人機(jī)界面,自動(dòng)手動(dòng)模式切換控制,最大功率1000w直流磁控濺射 詳情介紹
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