芯片恒溫恒濕測試箱的簡單介紹柳沁科技芯片恒溫恒濕測試箱LQ-TH-150A與高溫高濕循環(huán)實驗機均是可以同時或單獨做高溫高濕試驗、實驗的設(shè)備。芯片恒溫恒濕測試箱的詳細信息適用于電器、電工、電子、光電、通訊、儀器儀表及其它工業(yè)產(chǎn)品、零配件及材料在高溫高濕交替的環(huán)境下使用、生產(chǎn)、貯存、運輸時的適應(yīng)性試驗; 工業(yè)產(chǎn)品進行耐熱、耐濕、耐干性試驗及品質(zhì)管理工程的可靠性檢測設(shè)備。本設(shè)備的特點就是可以把多個試驗條件編定成多個程序讓它們自主按人工設(shè)定的指令不停的循環(huán)試驗。
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