芯片恒溫恒濕測試箱的簡單介紹柳沁科技芯片恒溫恒濕測試箱LQ-TH-150A與高溫高濕循環(huán)實(shí)驗(yàn)機(jī)均是可以同時(shí)或單獨(dú)做高溫高濕試驗(yàn)、實(shí)驗(yàn)的設(shè)備。芯片恒溫恒濕測試箱的詳細(xì)信息適用于電器、電工、電子、光電、通訊、儀器儀表及其它工業(yè)產(chǎn)品、零配件及材料在高溫高濕交替的環(huán)境下使用、生產(chǎn)、貯存、運(yùn)輸時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn); 工業(yè)產(chǎn)品進(jìn)行耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品質(zhì)管理工程的可靠性檢測設(shè)備。本設(shè)備的特點(diǎn)就是可以把多個(gè)試驗(yàn)條件編定成多個(gè)程序讓它們自主按人工設(shè)定的指令不停的循環(huán)試驗(yàn)。
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