科研IV曲線測試 電信號測試探針臺的簡單介紹KT-Z1604T-RL該探針臺的承載臺為Φ60不銹鋼臺面,臺面最高可升溫到最高-190~400℃。 光學測試 ,電信號測試 ,氣敏濕敏測試 。科研IV曲線測試 電信號測試探針臺的詳細信息KT-Z1604T-RL該探針臺的承載臺為Φ60不銹鋼臺面,臺面最高可升溫到最高-190~400℃。真空腔體設計有進氣口和抽真空接口。探針臂為X/Y/Z三軸移動,三個方向均可在真空環(huán)境下精密移位調節(jié),其中X方向調節(jié)范圍:0-30mm;y方向調節(jié)范圍:0-20mm;z方向調節(jié)范圍:0-20mm;用戶可根據需要自行調節(jié)。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上,再微調探針支架X/Y/Z 方向行程,通過顯微鏡觀察,使探針對準檢測點后,即可進行檢測。 以上是科研IV曲線測試 電信號測試探針臺的詳細信息,如果您對科研IV曲線測試 電信號測試探針臺的價格、廠家、型號、圖片有任何疑問,請聯系我們獲取科研IV曲線測試 電信號測試探針臺的最新信息 |