MC方案｜ 白光反射光譜法（WLRS）測量薄膜和超薄膜厚度

作者： 2019年05月24日 來源：全球化工設(shè)備網(wǎng) 瀏覽量：
字號(hào)：T | T
光學(xué)膜厚儀膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀、FilmThicknessGauges【利用材料的折射率來計(jì)算的，非接觸式的膜厚測試儀】FR的工具基于白光反射光譜（Reports），準(zhǔn)確同步的厚度測量及薄膜的折射率一個(gè)廣泛的多樣化

光學(xué)膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀、 Film Thickness Gauges【利用材料的折射率來計(jì)算的，非接觸式的膜厚測試儀】

FR的工具基于白光反射光譜（Reports），準(zhǔn)確同步的厚度測量及薄膜的折射率一個(gè)廣泛的多樣化的應(yīng)用范圍廣泛的光電特性的工具和整體解決方案，如：

半導(dǎo)體、有機(jī)電子、聚合物、涂料和涂料、光伏、生物傳感、化學(xué)傳感……  


                                             


                                                       FR-pRo系列

            

     

 

 

 

全球化工設(shè)備網(wǎng)（http://www.bhmbl.cn ）友情提醒，轉(zhuǎn)載請(qǐng)務(wù)必注明來源:全球化工設(shè)備網(wǎng)！違者必究.

標(biāo)簽：光學(xué)膜厚儀

分享到：
免責(zé)聲明：1、本文系本網(wǎng)編輯轉(zhuǎn)載或者作者自行發(fā)布，本網(wǎng)發(fā)布文章的目的在于傳遞更多信息給訪問者，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)，同時(shí)本網(wǎng)亦不對(duì)文章內(nèi)容的真實(shí)性負(fù)責(zé)。
2、如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)和其它問題，請(qǐng)?jiān)?0日內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，我們將在第一時(shí)間作出適當(dāng)處理！有關(guān)作品版權(quán)事宜請(qǐng)聯(lián)系：+86-571-88970062