您知道安東帕如何表征分散型樣品及溶液中的納米顆粒及微顆粒嗎？

Litesizer500顆粒分析儀中的參考頻率獲得了patent。

它是基于什么原理呢？

我們都知道日常生活中常見的多普勒效應：一輛鳴著笛駛近的救護車所發(fā)出的聲音聽上去要比它駛離的時候頻率要高。

多普勒效應與安東帕Litesizer 500有什么共性呢？

創(chuàng)新的推廣

共同之處多的超出你我的想象。要知道不僅僅是聲學中存在多普勒效應，光波中也存在多普勒效應，當然激光束中也存在。安東帕發(fā)明Litesizer 500，目的是為了測量分散體系中納米顆粒或微米顆粒的粒徑。“體系中至少含有兩種物質，互不相容且不會發(fā)生化學合成等反應，例如液體和固體”。開發(fā)者Christian Moitzi說：牛奶也是一種分散體系，更確切的說這是一種分散乳劑，是脂肪滴在水中的混合物，還有化妝品行業(yè)中的防曬霜，食品行業(yè)中的蛋黃醬都是乳劑的常見例子。對于這些體系，Zeta電位成了衡量其穩(wěn)定性的關鍵指標。這就意味著，在理想情況下，這些體系內的顆粒應該均勻分布，而不應該發(fā)生聚集，例如。牛奶就不應該結塊。所以，Zeta電位知識在質量控制和工藝優(yōu)化過程中就顯得很重要。

間接法測量Zeta電位

溶液中的顆粒由于其表面電荷而具有zeta電位。然而，zeta電勢不能直接測得只能間接確定。Litesizer500測量Zeta電位的原理是基于電泳光散射。通過給樣品池中兩個電極施加額外電場，待測溶液被填入其中，顆粒由于帶電荷而移動。一束射向樣品池的激光束被顆粒散射。由于散射光的頻率隨顆粒的方向和速度而變化，因此可以確定顆粒在電場中的運動速度。這就是光學多普勒效應發(fā)揮作用的地方。Zeta電位可以通過間接計算得到:散射光和顆粒速度。

重要參考

準確測量Zeta電位的關鍵在于對激光束的基準測量，有比較才能判斷音調“高”還是“低”，這與測量光學多普勒效應類似。相位分析光散射是測量光散射的一種方法，通常參考頻率也需要計算進去。測量的風險在于，一旦儀器出現(xiàn)老化等問題，測量誤差就會增加。先驅Christian Moitzi和Harald Noack的方法為連續(xù)不斷的測量參考光束頻率，他們的patent名稱為“cmPALS”,”cm”的意思即為連續(xù)測量。

不斷前進

我們所能夠提供給客戶的價值在于提供更穩(wěn)定的測量結果和更短的測量時間。最短測量時間大概為10秒,當然測量時間在30秒到2分鐘也都是正常的。這使得Litesizer 500明顯快于競爭對手。我們機器的光學系統(tǒng)非常穩(wěn)定，而且現(xiàn)在完全可以調節(jié)，只有安裝和調試是在客戶現(xiàn)場進行。