分析導(dǎo)致納米激光粒度儀數(shù)據(jù)漂移的根本原因

作者： 2018年03月27日 來(lái)源：全球化工設(shè)備網(wǎng) 瀏覽量：
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納米激光粒度儀是一種光學(xué)的測(cè)量?jī)x器，激光器、探測(cè)器是其中重要的構(gòu)成，是重要的光學(xué)元件。采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)的速度測(cè)定顆粒大小。小顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度快，大顆粒布
 　　納米激光粒度儀是一種光學(xué)的測(cè)量?jī)x器，激光器、探測(cè)器是其中重要的構(gòu)成，是重要的光學(xué)元件。采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)的速度測(cè)定顆粒大小。小顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度快，大顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度慢，激光照射這些顆粒，不同大小的顆粒將使散射光發(fā)生快慢不同的漲落起伏。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。

納米激光粒度儀

　　納米激光粒度儀應(yīng)用最為廣泛的粒度檢測(cè)設(shè)備。它的測(cè)試原理是依據(jù)光的散射現(xiàn)象：光在行進(jìn)過(guò)程中遇到顆粒時(shí)，將有一部分偏離原來(lái)的傳播方向，這種現(xiàn)象稱為光的散射或者衍射。顆粒尺寸越小，散射角越大；顆粒尺寸越大，散射角越小。激光粒度儀就是根據(jù)光的散射現(xiàn)象測(cè)量顆粒大小的。
　　納米激光粒度儀導(dǎo)致數(shù)據(jù)漂移的原因：
　　一、進(jìn)樣系統(tǒng)的循環(huán)、分散效能波動(dòng)
　　這個(gè)環(huán)節(jié)導(dǎo)致的數(shù)據(jù)漂移比較隱蔽，所以容易被忽視。樣品循環(huán)系統(tǒng)使用的介質(zhì)特性、介質(zhì)流速（干法儀器而言則是氣壓和氣流量）、超聲分散設(shè)備的工況、水泵轉(zhuǎn)速這幾個(gè)要點(diǎn)會(huì)明顯影響測(cè)試數(shù)據(jù)，需要細(xì)心關(guān)注。應(yīng)對(duì)這些問(wèn)題的主要辦法或者方法如下：
　　關(guān)注測(cè)試用水的質(zhì)量，特別是那些以自來(lái)水為介質(zhì)的用戶。
　　干法儀器用戶則需定期檢查和維護(hù)保養(yǎng)空壓機(jī)，空氣過(guò)濾裝置，收塵裝置。保證分散樣品的高壓空氣質(zhì)量。
　　關(guān)注超聲分散設(shè)備功率輸出是否正常。
　　觀察進(jìn)樣器的運(yùn)轉(zhuǎn)情況，發(fā)現(xiàn)有轉(zhuǎn)速波動(dòng)情況，及時(shí)維護(hù)。
　　二、鏡頭和測(cè)試窗口玻璃污染
　　光學(xué)儀器的鏡頭污染是常見(jiàn)故障。激光粒度儀作為粉體檢測(cè)設(shè)備，常常會(huì)面對(duì)多塵環(huán)境，測(cè)試窗口鏡片則是會(huì)直接接觸粉體樣品的光學(xué)器件。聚焦透鏡或者準(zhǔn)直透鏡等光學(xué)鏡片受到使用環(huán)境中的浮塵污染或者發(fā)生霉菌污染，會(huì)使純凈的測(cè)量光束產(chǎn)生雜散光。這些雜散光會(huì)混入樣品的散射光中干擾測(cè)試；測(cè)量窗口鏡片上的污染物則會(huì)直接產(chǎn)生較強(qiáng)的散射光。
　　因此，光學(xué)鏡片污染是激光粒度儀測(cè)試結(jié)果漂移的首要元兇。應(yīng)對(duì)辦法主要是盡量讓儀器處于干燥無(wú)塵的工作環(huán)境。經(jīng)常按照操作規(guī)程清洗鏡片，保證光學(xué)鏡片的清潔。
　　三、激光光路偏移
　　激光器是會(huì)發(fā)熱的器件，工作周期內(nèi)，它們會(huì)周而復(fù)始的發(fā)熱-降溫-發(fā)熱。任何物體都會(huì)有熱脹冷縮現(xiàn)象，幾何尺寸會(huì)隨溫度變化而變化。而激光粒度儀光路裝配精度要求非常高，隨著儀器使用周期延長(zhǎng)，光路幾乎不可避免的會(huì)出現(xiàn)偏移現(xiàn)象。光路偏移，會(huì)導(dǎo)致測(cè)量光束光能衰減、探測(cè)器排布角度發(fā)生漂移，從而導(dǎo)致測(cè)量數(shù)據(jù)漂移。
　　應(yīng)對(duì)這個(gè)問(wèn)題主要靠?jī)x器制造商從儀器設(shè)計(jì)上盡量減少出現(xiàn)光路偏移的可能性，同時(shí)定期校準(zhǔn)光路也是非常重要的辦法。
　　四、測(cè)量參數(shù)、測(cè)量條件變動(dòng)
　　分析模型、樣品測(cè)量參數(shù)、測(cè)試環(huán)境（例如濕度、測(cè)試介質(zhì)溫度等）都有可能影響測(cè)試數(shù)據(jù)。我們首先要保證測(cè)試的分析模型、樣品測(cè)量參數(shù)（特別是樣品折射率）選擇正確。測(cè)試環(huán)境的影響，視不同樣品和儀器工作環(huán)境不同，影響也差別很大，很難簡(jiǎn)單舉例說(shuō)明。需要具體情況具體分析。
　　五、光電探測(cè)器及其放大電路參數(shù)漂移
　　這類問(wèn)題應(yīng)該屬于儀器制造質(zhì)量水平問(wèn)題，，一般來(lái)說(shuō)任何電子電路和光電探測(cè)器都有工況漂移問(wèn)題，差別只是漂移量不同。這類問(wèn)題通常儀器用戶自己是無(wú)法解決的，需要儀器制造商對(duì)儀器進(jìn)行專門(mén)的電路工況系數(shù)校準(zhǔn)。某些高水平的儀器，能夠自行校準(zhǔn)自身電路工況漂移。
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