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標準物質(zhì)數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)軟件的設計與應用

作者: 2013年07月22日 來源: 瀏覽量:
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1 前言  標準物質(zhì)制備過程中數(shù)據(jù)的統(tǒng)計檢驗是重要的,同時也是較為復雜的環(huán)節(jié)之一,標準物質(zhì)技術規(guī)范[1~3]要求用極差法、方差法、Grubbs異常值檢驗法、Welk正態(tài)分布等統(tǒng)計方法來檢驗和處理測試數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)
 1 前言
  標準物質(zhì)制備過程中數(shù)據(jù)的統(tǒng)計檢驗是重要的,同時也是較為復雜的環(huán)節(jié)之一,標準物質(zhì)技術規(guī)范[1~3]要求用極差法、方差法、Grubbs異常值檢驗法、Welk正態(tài)分布等統(tǒng)計方法來檢驗和處理測試數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)的計算是一項繁雜的工作,以前均采用手工計算,出錯率高,周期長,而且需要不同的人進行計算以便復核。例如對一個含有10個元素的標準物質(zhì),進行均勻性檢查后得到的原始數(shù)據(jù)多達480~800個,在計算過程中反復使用,產(chǎn)生大量的中間數(shù)據(jù),若冶煉一套光譜電極標準物質(zhì),則原始數(shù)據(jù)多達2400~5000個。隨著科學技術的發(fā)展,計算機的廣泛應用為這一問題的解決開辟了新的途徑,極大地提高了工作效率。
  早期采用BASIC語言編程[4],不足之處是對原始數(shù)據(jù)的存儲、修改等不便,而且是單項處理,未能形成一個系統(tǒng)。王詠等[5]所編制的管理系統(tǒng)要用到Foxbase+(Rev 2.10)的系統(tǒng)軟件的支持,操作不易掌握。
  本文采用Quick Basic編制了一套數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)軟件,程序運行后,界面清晰,操作方便,實現(xiàn)了對原始數(shù)據(jù)的保存、修改和結(jié)果輸出。已用于高硅高銅系鑄造鋁合金光譜電極標準物質(zhì)研制中的數(shù)據(jù)處理,并取得了良好效果。
  本系統(tǒng)采用自頂向下的結(jié)構(gòu)化程序設計方法,將所涉及的項目逐條分類、菜單顯示明確,用戶不需任何專門的培訓即可操作。系統(tǒng)基于DOS的漢字平臺,不需其它數(shù)據(jù)庫系統(tǒng)軟件的支持。系統(tǒng)框圖如圖1所示。
  本文就其編程的數(shù)學模型、程序特點進行介紹。

圖1 系統(tǒng)框圖
Fig. 1 Draft of the system

2 數(shù)學模型
2.1 均勻性檢查數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)

  對某一標準物質(zhì)均勻性檢查數(shù)據(jù)的處理方式有兩種,分別是推薦使用極差分析法和方差分析法。極差法的特點是計算簡單,但對原始數(shù)據(jù)提供的信息利用不夠充分,而方差法正好相反。其原理如下:
  對某一樣品進行均勻性檢查,得到以下各組數(shù)據(jù):     
測定值平均值                      總平均值為x?!   ?BR> x11,x12,x13,…,x1n x1                 1
 x21,x22,x23,…,x2n x2  … …            2
 xm1,xm2,xm3,…,xmn xn                 n
2.1.1 極差分析法
 ?。?)計算組內(nèi)極差平均值

  (2)計算檢驗量 R0=A*r,其中A為表中查到的界值因子。
  (3)計算組間平均值的極差R=xmax-xmin。
 ?。?)結(jié)果判斷:若R≤R0,則總體均勻,否則總體不均勻。
2.1.2 方差分析法
 ?。?)計算組間平方和Q1與組內(nèi)平方和Q2

 ?。?)計算組間方差S12與組內(nèi)方差S22
    S12=Q1/V1其中V1=m-1為Q1的自由度。  
    S22=Q2/V2其中V2=m(n-1)為Q2的自由度。
 ?。?)計算統(tǒng)計檢驗量F,F(xiàn)=S22/S12。
 ?。?)結(jié)果判斷:若F≤F(F為查表得到的臨界值),則總體均勻,否則總體不均勻。
2.2 定值數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
  對于標準物質(zhì)的定值,一般要求不少于六個試驗室單獨進行分析,每個試驗室報出四個數(shù)據(jù),注明所用的分析方法。
  對某一元素,不同的試驗室分析結(jié)果如下:
試驗室代號  測定值平均值方法代號           平均值           方法代號
1       x11,x12,x13,…,x1n         1        a1
2       x21,x22,x23,…,x2n         2       a2
…       …                   …        …  
m       xm1,xm2,xm3,…,xmn         m       a3  
  總平均值為,標準偏差為S 。
  檢驗的方法,按國標要求需進行可疑值檢驗和正態(tài)分布檢驗,一般推薦使用Grubbs法檢驗可疑值,用Welk法進行正態(tài)分布檢驗。
2.2.1 Grubbs法檢驗可疑值
 ?。?)將各試驗室的平均值按由小到大的順序排列。
  (2)計算最大值和最小值的統(tǒng)計檢驗量

 ?。?)根據(jù)顯著性水平,查出臨界值Gα。
 ?。?)若統(tǒng)計檢驗量大于臨界值,則最大或最小值
為可疑值,應剔除,否則無可疑值。
2.2.2 Welk正態(tài)分布檢驗
 ?。?)將各試驗室的平均值按由小到大的順序排列。
 ?。?)按下式計算檢驗統(tǒng)計量:

式中:當m為偶數(shù)時,l=n/2;當m為奇數(shù)時,l=(n-1)/2; αi,m為計算統(tǒng)計量必須的系數(shù)。
 ?。?)根據(jù)顯著性水平查出臨界值Wα。
  (4)若W≥Wα,表示各測量值服從正態(tài)分布,否則表示各測量值不服從正態(tài)分布,各試驗室之間存在系統(tǒng)誤差。
3 數(shù)據(jù)錄入系統(tǒng)
  文中所設計的系統(tǒng)將原始數(shù)據(jù)和參數(shù)分別存儲,建立數(shù)據(jù)庫,便于查詢和修改,其程序流程圖如圖2所示。

圖2 數(shù)據(jù)錄入流程圖
Fig.2 Flow chart of entering data

  程序運行后,根據(jù)界面的提示,首先輸入測定樣品的爐號、測定組數(shù)、每組測定次數(shù)、元素符號等,然后可一次或數(shù)次輸完數(shù)據(jù)。

4 數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
  根據(jù)以上所建立的數(shù)學模型,程序的流程圖如圖3所示。
  在運行結(jié)果中含有標準物質(zhì)名稱、爐次、元素、各組平均值、總平均值、標準偏差、相對標準偏差、組內(nèi)極差、組間極差、組間平方和、組內(nèi)平方和、計算出的檢驗量及結(jié)論,數(shù)據(jù)齊全,為標準物質(zhì)的鑒定提供了有價值的判斷依據(jù)。
  程序設計中,有效數(shù)字的處理按國家有關標準的要求進行,使數(shù)字的取舍更為科學、合理,而且消除了手工計算時對中間數(shù)字的取舍而造成的誤差。

圖3 數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)流程圖
Fig.3 Flow chart of system data dealing

5 應用實例
  該系統(tǒng)用于高硅高銅系鑄造鋁合金光譜電極標準物質(zhì)研制的數(shù)據(jù)處理,均勻性檢查數(shù)據(jù)和定值數(shù)據(jù)處理結(jié)果如表1和表2所示。
  從表1和表2 可以看出:程序運行后,提供了豐富的數(shù)據(jù),可根據(jù)需要在中文系統(tǒng)下進行編輯,以滿足不同的需要。

表1 均勻性檢查數(shù)據(jù)處理結(jié)果
Table 1 The data processing results of homogeneity

高硅高銅系鑄造鋁合金(第4爐)Si(wt%)
原始數(shù)據(jù)
M/N 1 2 平均值 M/N 1 2 平均值
1 4.494 4.495 4.495 10 4.417 4.497 4.457
2 4.452 4.466 4.459 11 4.410 4.385 4.398
3 4.440 4.390 4.415 12 4.462 4.371 4.417
4 4.517 4.379 4.448 13 4.383 4.430 4.407
5 4.470 4.390 4.430 14 4.452 4.585 4.519
6 4.431 4.521 4.476 15 4.480 4.557 4.519
7 4.369 4.477 4.423 16 4.337 4.594 4.466
8 4.442 4.413 4.428 17 4.405 4.552 4.479
9 4.435 4.385 4.410 18 4.570 4.498 4.534

24-3.gif (919 bytes)=4.454  S=0.0662  RSD=1.49

F-檢驗 Q1=0.060476 Q2=0.092615

F=0.691 F=2.262

結(jié)論:均勻
R-檢驗 r=0.083 R=0.136 A=0.610 A=3.566
結(jié)論:均勻

表2 定值數(shù)據(jù)處理結(jié)果
Table 2 The data processing results of certificate

高硅高銅系鑄造鋁合金(第4爐)       Si(wt%)

試驗室代號 測定值 平均值 分析方法代號
1 4.602 4.605 4.564 4.565 4.5840 101
2 4.721 4.735 4.716 4.679 4.7128 102
3 4.599 4.617 4.604 4.654 4.6185 102
4 4.613 4.697 4.760 4.764 4.7085 101
5 4.763 4.740 4.740 4.788 4.7578 103
6 4.722 4.770 4.763 4.808 4.7658 102
7 4.737 4.722 4.720 4.740 4.7298 103
8 4.822 4.637 4.843 4.889 4.7978 102
總平均值 4.7093  標準偏差 0.0735
夏皮羅-威

爾克檢驗

臨界值 0.818  計算值 0.912
結(jié)論: 正態(tài)分布
Grubbs
檢驗
臨界值 2.032 Gmax=1.204 結(jié)論: 無可疑值
Gmin=1.705 結(jié)論: 無可疑值
標準值 4.709  標準偏差 0.074  n=32

6 程序說明
 ?。?)本程序為模塊化結(jié)構(gòu),便于維護、修改。全部系統(tǒng)可存儲于一張3.5英寸的軟盤內(nèi),而且對計算機無特殊要求,只需DOS漢字平臺支持即可運行,操作簡便。
 ?。?)為了防止程序運行時“崩潰”,采取了“錯誤陷阱”的處理方式,發(fā)生錯誤不會退出,而回到出現(xiàn)錯誤之處,重新運行。
 ?。?)輸出結(jié)果的形式多樣,既可直接打印輸出、屏幕顯示,也可存盤,隨時可供調(diào)用和打印。
 ?。?)在本程序中,數(shù)據(jù)的取舍完全按國標處理,使數(shù)據(jù)的取舍更為合理、科學。

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