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探測(cè)

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  • 中國(guó)散裂中子源小角散射譜儀主探測(cè)器完成安裝(2017-09-04)

    【中國(guó)儀表網(wǎng)儀表產(chǎn)業(yè)】8月25日,中國(guó)散裂中子源(CSNS)最后一臺(tái)大型精密設(shè)備——小角散射譜儀(SANS)主探測(cè)器完成安裝。  主探測(cè)器是小角散射譜儀的關(guān)鍵設(shè)備,其采用120根8mm位置靈敏型3He…[詳情]

  • 中國(guó)散裂中子源小角散射譜儀主探測(cè)器完成安裝(2017-09-01)

    8月25日,中國(guó)散裂中子源(CSNS)最后一臺(tái)大型精密設(shè)備——小角散射譜儀(SANS)主探測(cè)器完成安裝?!   ≈魈綔y(cè)器是小角散射譜儀的關(guān)鍵設(shè)備,其采用120根8mm位置靈敏型3He管組成陣列,有效探測(cè)…[詳情]

  • 西安光機(jī)所海洋光學(xué)設(shè)備助力海洋環(huán)境持續(xù)探測(cè)(2017-08-24)

    日前,我國(guó)最大規(guī)模的一次面向海洋中尺度渦的海上立體組網(wǎng)綜合調(diào)查結(jié)束了第一階段任務(wù),科考人員和部分調(diào)查設(shè)備在汕頭靠岸。8月14日,從中科院西安光機(jī)所了解到,本次海試中,該所自主研制的海洋光學(xué)…[詳情]

  • 福建物構(gòu)所鐵電半導(dǎo)體光電探測(cè)晶體材料研究獲進(jìn)展(2017-08-14)

    鐵電材料是一類特殊的極性化合物,基于自發(fā)極化效應(yīng)表現(xiàn)出優(yōu)良的非線性光學(xué)、壓電、熱釋電和鐵電等性能,在信息存儲(chǔ)、紅外探測(cè)、聲表面波和集成光電器件等領(lǐng)域有著重要應(yīng)用,特別在光輻照下材料內(nèi)部將…[詳情]

  • 深海探測(cè)裝備開(kāi)啟我國(guó)海洋科考新模式(2017-08-11)

    近日,由中國(guó)科學(xué)院機(jī)器人與智能制造創(chuàng)新研究院(籌)(以下簡(jiǎn)稱創(chuàng)新研究院)組織實(shí)施的中科院“海洋先導(dǎo)專項(xiàng)”2017年南海綜合調(diào)查航次第二航段任務(wù)圓滿結(jié)束。創(chuàng)新研究院自主研制的“探索”號(hào)4500米級(jí)AUV…[詳情]

  • 重慶研究院等三維石墨烯異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器件研究獲進(jìn)展(2017-08-10)

    近日,中國(guó)科學(xué)院重慶綠色智能技術(shù)研究院微納制造與系統(tǒng)集成研究中心與香港中文大學(xué)、電子科技大學(xué)和重慶理工大學(xué)合作,在基于硅表面的三維石墨烯原位生長(zhǎng)技術(shù)上,取得高性能異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器方面的…[詳情]

  • 第三屆激光雷達(dá)成像探測(cè)技術(shù)及應(yīng)用研討會(huì)順利閉幕(2017-08-08)

    【中國(guó)儀表網(wǎng)儀表會(huì)議】繼成功舉辦兩屆大會(huì)之后,中國(guó)光學(xué)工程學(xué)會(huì)“第三屆激光雷達(dá)成像探測(cè)技術(shù)及應(yīng)用研討會(huì)”于2017年7月23日-25日在吉林長(zhǎng)春隆重開(kāi)幕。大會(huì)現(xiàn)場(chǎng)  與會(huì)代表近300人,分別…[詳情]

  • 科學(xué)家研制3D打印水質(zhì)探測(cè)器 低成本有利規(guī)模化生產(chǎn)(2017-08-07)

    目前來(lái)說(shuō),人們只是定期定點(diǎn)對(duì)配水系統(tǒng)水質(zhì)進(jìn)行檢測(cè),這就讓污染物有機(jī)會(huì)隨著水流進(jìn)入千家萬(wàn)戶水質(zhì)問(wèn)題是一個(gè)事關(guān)民生的重大問(wèn)題。我們只需稍微關(guān)心一下城市的用水問(wèn)題,就可以發(fā)現(xiàn),對(duì)水質(zhì)進(jìn)行持續(xù)…[詳情]

  • 日本電子發(fā)布新的STEM探測(cè)器“4DCanvas”(2017-08-07)

    2017年7月,日本電子發(fā)布新的STEM(掃描透射電子顯微鏡)探測(cè)器“4DCanvas”?! ∽鳛橐环N新穎的新型探測(cè)器,“4DCanvas”可以記錄所有傳輸、衍射和散射電子的位置和強(qiáng)度,作為STEM圖像的每個(gè)像素的二維(2D…[詳情]

  • 日本電子推出新探測(cè)器“4DCanvas”(2017-08-03)

    2017年7月,日本電子發(fā)布新的STEM(掃描透射電子顯微鏡)探測(cè)器“4DCanvas”。   作為一種新穎的新型探測(cè)器,“4DCanvas”可以記錄所有傳輸、衍射和散射電子的位置和強(qiáng)度,作為ST…[詳情]

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