日本電子推出新探測(cè)器“4DCanvas”

作者： 2017年08月03日 來(lái)源： 瀏覽量：
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2017年7月，日本電子發(fā)布新的STEM(掃描透射電子顯微鏡)探測(cè)器“4DCanvas”。 　　作為一種新穎的新型探測(cè)器，“4DCanvas”可以記錄所有傳輸、衍射和散射電子的位置和強(qiáng)度，作為STEM圖像的每個(gè)像
日本電子推出新探測(cè)器“4DCanvas”

　　2017年7月，日本電子發(fā)布新的STEM(掃描透射電子顯微鏡)探測(cè)器“4DCanvas”。

　　作為一種新穎的新型探測(cè)器，“4DCanvas”可以記錄所有傳輸、衍射和散射電子的位置和強(qiáng)度，作為STEM圖像的每個(gè)像素的二維(2D)圖案。

　　該像素化檢測(cè)器的傳感器是具有264×264像素的直接電子檢測(cè)CCD。換句話說(shuō),這是一款高靈敏度的多通道檢測(cè)器。該檢測(cè)器的記錄數(shù)據(jù)為4維(4D)，其軸為STEM像素位置的x和y，檢測(cè)器像素位置為u&v。

　　預(yù)計(jì)未來(lái)“4DCanvas”的潛在應(yīng)用會(huì)增加，“4DCanvas”的研發(fā)將為電子顯微鏡的用戶提供一個(gè)平臺(tái)，就像在畫布上自由繪制地圖一樣。

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