X熒光光譜儀樣品膜、WF-240、光譜儀樣品膜、邁拉膜、美國加聯(lián)的簡單介紹在用X熒光光譜儀進(jìn)行ROHS檢測,WEEE檢測和一般材料成分分析時,由于樣品的不規(guī)則(特別是液體、粉末等),需要借助樣品杯和薄膜輔助檢測;但不合適的樣品薄膜往往造成樣品污染并影響材料成分分析的X射線X熒光光譜儀樣品膜、WF-240、光譜儀樣品膜、邁拉膜、美國加聯(lián)的詳細(xì)信息德國斯派克Spectro、英國牛津Oxford、日本堀場Horiba、飛利浦/帕納科Philips/Panalytical、德國布魯克 Bruker、美國賽默飛世爾科技(熱電)Thermo,瑞士ARL及日本理學(xué)Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma,Venus 200,Valley等生產(chǎn)的X熒光光譜儀(XRF)。 (適用X 射線熒光光譜儀品牌型號:所有X射線熒光光譜儀包括:尼通(NITON):Xlt797z 、Xlt794、Xlt898 ;伊諾斯(Innov-X):AlPHA6000;牛津(Oxford):Met-5000;帕納科(Panalytical):Minipal4、 Minipal2;精工(Seiko):SEA1000A;斯派克(Spectro):XEPOS、MIDEX M;熱電(Thermo):ARL Quant’X;日本電子(JEOL)JSX-3400R;Horriba等。) 以上是X熒光光譜儀樣品膜、WF-240、光譜儀樣品膜、邁拉膜、美國加聯(lián)的詳細(xì)信息,如果您對X熒光光譜儀樣品膜、WF-240、光譜儀樣品膜、邁拉膜、美國加聯(lián)的價格、廠家、型號、圖片有任何疑問,請聯(lián)系我們獲取X熒光光譜儀樣品膜、WF-240、光譜儀樣品膜、邁拉膜、美國加聯(lián)的最新信息 |