光學輪廓測量儀的簡單介紹SuperViewW系列光學輪廓測量儀可以測到12mm,也可以測到更小的尺寸,xy載物臺標準行程為140*110mm,局部位移精度可達亞微米級別,鏡頭的橫向分辨率數值可達0.4um光學輪廓測量儀的詳細信息中圖儀器SuperViewW系列光學輪廓測量儀采用光學干涉技術、精密Z向掃描模塊和優(yōu)異的3D重建算法組成測量系統(tǒng),集成X、Y、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。 產品功能1)光學輪廓測量儀設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能; 2)測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調亮度等自動化輔助功能; 3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量功能; 4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數據處理功能; 5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能; 6)分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。 應用領域對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。 SuperViewW系列光學輪廓測量儀以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析,并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數,從而實現器件表面形貌3D測量,可以測到12mm,也可以測到更小的尺寸,xy載物臺標準行程為140*110mm,局部位移精度可達亞微米級別,鏡頭的橫向分辨率數值可達0.4um,Z向掃描電機可掃描10mm范圍,縱向分辨率可達0.1nm級別,因此可測非常微小尺寸的器件。 技術指標
性能特色1、高精度、高重復性 1)采用光學干涉技術、精密Z向掃描模塊和優(yōu)異的3D重建算法組成測量系統(tǒng),保證測量精度高; 2)隔振系統(tǒng),能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動,消除地面振動噪聲和空氣中聲波振動噪聲,保障儀器在大部分的生產車間環(huán)境中能穩(wěn)定使用,獲得高測量重復性; 2、環(huán)境噪聲檢測功能 具備0.1nm分辨率的環(huán)境噪聲檢測模塊,能夠定量評估出外界環(huán)境對儀器掃描軸的震動干擾,在設備調試、日常監(jiān)測、故障排查中能夠提供定量的環(huán)境噪聲數據作為支撐。 3、精密操縱手柄 集成X、Y、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。 4、雙重防撞保護措施 在初級的軟件ZSTOP設置Z向位移下限位進行防撞保護外,另在Z軸上設計有機械電子傳感器,當鏡頭觸碰到樣品表面時,儀器自動進入緊急停止狀態(tài),最大限度的保護儀器,降低人為操作風險。 5、雙通道氣浮隔振系統(tǒng) 既可以接入客戶現場的穩(wěn)定氣源也可以接入標配靜音空壓機,在無外接氣源的條件下也可穩(wěn)定工作。 SuperViewW光學輪廓儀具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數涵蓋面廣的優(yōu)點,測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內,確保了高款率檢測。并且其特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。 以上是光學輪廓測量儀的詳細信息,如果您對光學輪廓測量儀的價格、廠家、型號、圖片有任何疑問,請聯系我們獲取光學輪廓測量儀的最新信息 |