介紹X熒光光譜儀的分析原理及構(gòu)造

　　X射線熒光(XRF)能用于測(cè)定周期表中多達(dá)83個(gè)元素所組成的各種形式和性質(zhì)的導(dǎo)體或非導(dǎo)體固體材料，其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質(zhì)物料等。凡是能和X射線發(fā)生激烈作用的樣品都不能分析，而要分析的樣品必須經(jīng)受在真空(4~5Pa)環(huán)境下測(cè)定，與其他分析技術(shù)相比，XRF具有分析速度快，穩(wěn)定性和精密度好以及動(dòng)態(tài)范圍寬等優(yōu)點(diǎn)。

　　X-熒光光譜儀工作原理

　　X-熒光光譜儀有兩種類型：一種是波長(zhǎng)色散型(WDX)，一種是能量色散型(EDX)，我公司(INNOV-X中國(guó)服務(wù)中心)使用的是波長(zhǎng)色散型(XRF分析儀)，在WDX中，熒光光譜通過色散元件(如晶體)被分離成不連續(xù)的波段，然后用氣體正比計(jì)數(shù)器或閃爍計(jì)數(shù)器檢測(cè)，其主要組成是X光管、初級(jí)準(zhǔn)直器、晶體、次級(jí)準(zhǔn)直器和探測(cè)器，及輔助裝置如初級(jí)濾光片等。

　　SDD探測(cè)器X熒光儀共有2個(gè)探測(cè)器，即流氣正比計(jì)數(shù)器和閃爍計(jì)數(shù)器，裝在探測(cè)器架上，可程控切換.掃描式X射線熒光儀安裝的是具有很大測(cè)定靈活性的測(cè)角儀，只要配備了必要的分析晶體就能按序分析周期表上多達(dá)83個(gè)元素。

　　此外，測(cè)角儀還可以使用半定量分析元件如QuantAS，這些軟件能快速分析未知樣品，而不需要使用標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)做儀器校準(zhǔn)。而我公司ARL9800XP熒光光譜儀裝有一個(gè)測(cè)角儀(掃描道)和一個(gè)衍射道，如果需要還可以再裝14個(gè)固定道，它配有12位樣品交換器，可以設(shè)定自動(dòng)進(jìn)樣。

　　X射線熒光光譜儀的基本原理

　　被測(cè)試樣進(jìn)入光譜儀后，受到來(lái)自X光管發(fā)出的X射線光束激發(fā)，產(chǎn)生X熒光，X射線熒光是指用X射線管或其它合適的輻射源照射物質(zhì)時(shí)，使組成物質(zhì)的原子產(chǎn)生具有特征性的一種次級(jí)X射線，X光管發(fā)射的光譜是有靶材元素(Rh銠)的特征譜和連續(xù)譜(或稱白色輻射)所組成，來(lái)自樣品的輻射是由X光管光譜和樣品中各元素的特征譜所組成的混合光，這種混合光被引入測(cè)角儀所組成的色散系統(tǒng)分光，分光后所得的譜線和被測(cè)樣品中存在的元素有關(guān)。