36項(xiàng)擬立項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目公開征求意見,涉及質(zhì)譜、光譜等儀器

       經(jīng)研究，現(xiàn)對《燃料電池電動摩托車和燃料電池電動輕便摩托車安全要求指南》等36項(xiàng)擬立項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目公開征求意見，征求意見截止時間為2024年7月3日。

　　《高通量基因測序儀性能測定方法》

　　本標(biāo)準(zhǔn)由 TC481(全國儀器分析測試標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會)歸口 ，主管部門為科學(xué)技術(shù)部。主要起草單位：中國海關(guān)科學(xué)技術(shù)研究中心 、中國食品藥品檢定研究院 、深圳華大智造科技股份有限公司 、北京林電偉業(yè)電子技術(shù)有限公司 。

　　對于日趨增多的基因測序儀儀器產(chǎn)品、基因測序應(yīng)用、基因檢測檢測技術(shù)升級需求，實(shí)現(xiàn)對高通量基因測序儀的儀器性能測定，并進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化輸出，以及對細(xì)菌、病毒、人、植物等物種的檢測技術(shù)要求，建立標(biāo)準(zhǔn)檢測技術(shù)方法和參考標(biāo)準(zhǔn)，涵蓋測序文庫制備、測序、數(shù)據(jù)分析等技術(shù)方法內(nèi)容。 主要技術(shù)內(nèi)容： (1)建立基于高通量基因測序儀的性能測定方法，建立從核酸到數(shù)據(jù)的完整技術(shù)流程，建立標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)與分析流程，完成基因測序儀的通用性能要求和體系建設(shè)。 (2)建立基于高通量基因測序儀的常見物種測序及分析方法，實(shí)現(xiàn)細(xì)菌、病毒、人、植物等生物樣本類型的測定流程建立和合格要求，并建立相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)品，提供完整的測定參考體系。

　　《超低本底α粒子測量裝置》

　　本標(biāo)準(zhǔn)由 TC30(全國核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會)歸口，TC30SC1(全國核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會通用核儀器和輻射探測器分會)執(zhí)行 ，主管部門為國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會。主要起草單位：深圳市計(jì)量質(zhì)量檢測研究院 。

　　本標(biāo)準(zhǔn)適用于測量本底計(jì)數(shù)率不高于0.05cm-2，能量不超過10MeV的α粒子測量裝置。規(guī)定了超低本底α粒子測量裝置的通用設(shè)計(jì)要求、測量特性、輻射測量特性、環(huán)境影響要求以及對應(yīng)的試驗(yàn)方法，提供了出廠檢驗(yàn)的項(xiàng)目要求，規(guī)定了超低本底α粒子測量裝置的貯存和運(yùn)輸。

　　《高深寬比微結(jié)構(gòu)形態(tài)參數(shù)近紅外顯微干涉測量方法》

　　本標(biāo)準(zhǔn)由 TC487(全國光電測量標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會)歸口 ，主管部門為中國科學(xué)院。主要起草單位 南京理工大學(xué) 、上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院 、中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所 、中國科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所 、蘇州工業(yè)園區(qū)納米產(chǎn)業(yè)技術(shù)研究院有限公司 、中國科學(xué)院微電子研究所 、中國計(jì)量科學(xué)研究院 、中國科學(xué)院空天信息創(chuàng)新研究院 、齊之明光電智能科技(蘇州)有限公司 、南京智群光電技術(shù)有限公司 。

　　適用范圍：本標(biāo)準(zhǔn)描述了高深寬比微結(jié)構(gòu)三維形貌及由之獲得形態(tài)參數(shù)的近紅外低相干顯微干涉法測量原理、測量設(shè)備、測量要求以及測試報(bào)告等內(nèi)容。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于導(dǎo)航級陀螺儀、加速度計(jì)、壓力傳感器、微量成份色譜柱等功能器件的近紅外透明類基底材料上高深寬比微結(jié)構(gòu)的形態(tài)參數(shù)的測量。微結(jié)構(gòu)包括但不限于單獨(dú)和陣列(周期性)的溝槽、柱和孔等。

　　主要技術(shù)內(nèi)容：低相干顯微干涉法是一種非接觸式光學(xué)無損檢測技術(shù)，可得到樣品的三維形貌。現(xiàn)有的白光低相干顯微干涉法，探測光受高深寬比微結(jié)構(gòu)的遮攔，探測失效;對材料透明的近紅外波段探測光，不存在遮擋區(qū)域，探測光通量大，但高深寬比微結(jié)構(gòu)引入調(diào)制像差，導(dǎo)致探測光不聚焦;引入變形鏡，補(bǔ)償調(diào)制像差，探測光在結(jié)構(gòu)底部重聚焦，近紅外低相干顯微干涉法重新具備了高精度、高分辨率測量高深寬比微結(jié)構(gòu)三維形貌的能力。

　　測量原理：近紅外低相干顯微干涉法檢測高深寬比微結(jié)構(gòu)，近紅外光源發(fā)出的光束經(jīng)分光棱鏡分為兩束，一束經(jīng)待測高深寬比微結(jié)構(gòu)樣品反射，作為測試光，另一束經(jīng)參考鏡反射，作為參考光，兩束反射光經(jīng)成像系統(tǒng)匯合形成干涉圖像，利用壓電陶瓷等微位移機(jī)構(gòu)驅(qū)動樣品做垂直掃描，掃描范圍覆蓋高深寬比微結(jié)構(gòu)的上下表面。因結(jié)構(gòu)的調(diào)制，此時干涉圖像的對比度低，依據(jù)像差檢測模塊測得的像差數(shù)據(jù)，改變變形鏡形狀，獲得對比度良好、隨垂直掃描位置變化的干涉圖;通過對掃描得到的序列干涉圖像進(jìn)行低相干信號解調(diào)算法處理，同時扣除變形鏡的附加相位，得到與樣品形貌相關(guān)的相位分布函數(shù)，則可計(jì)算得到樣品表面各點(diǎn)的高度信息，即樣品表面的三維形貌;通過提取三維形貌計(jì)算，可以得到包括線寬、深度、深寬比和側(cè)壁角的形態(tài)參數(shù)。

　　試驗(yàn)條件：(a)溫度：20 ℃ ~ 25 ℃;(b)相對濕度：30% ~ 80%;(c)環(huán)境光照：室內(nèi)照明環(huán)境，避免外界強(qiáng)太陽光照干擾;(d)振動干擾：無影響測量結(jié)果的光噪聲，明顯氣流、電磁輻射和機(jī)械振動;(e)空氣潔凈度：一般高深寬比微結(jié)構(gòu)的制造工藝環(huán)境，≤萬級。

　　試驗(yàn)方法： 三維形貌信息測量：(a)將待測的高深寬比樣品安裝在樣品臺上，先調(diào)整定位結(jié)構(gòu)的上表面;(b)根據(jù)深度名義值，調(diào)整移動至下表面，檢測結(jié)構(gòu)調(diào)制產(chǎn)生的像差，通過變形鏡進(jìn)行補(bǔ)償，保存此時變形鏡的補(bǔ)償電壓;(c)重新調(diào)整定位樣品上表面，給變形鏡施加展平電壓，采集上表面附近的干涉圖像，再移至下表面，給變形鏡施加補(bǔ)償電壓，采集下表面附近的干涉圖像;(d)根據(jù)采集到的圖像，運(yùn)用低相干垂直掃描形貌算法，計(jì)算出待測高深寬比微結(jié)構(gòu)的三維形貌。通常測10 次，取算術(shù)平均值，作為三維形貌的測量結(jié)果。(e)根據(jù)計(jì)算出的高深寬比微結(jié)構(gòu)的三維形貌信息進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，計(jì)算表征高深寬比微結(jié)構(gòu)所需的結(jié)構(gòu)形態(tài)參數(shù)，進(jìn)行記錄。

　　《電測量設(shè)備(交流) 特殊要求 第5部分：多回路電能表》

　　本標(biāo)準(zhǔn)由 TC104(全國電工儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會)歸口，TC104SC1(全國電工儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會電能測量和控制分會)執(zhí)行 ，主管部門為中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會。主要起草單位哈爾濱電工儀表研究所有限公司 、山東省計(jì)量科學(xué)研究院 、浙江正泰儀器儀表有限責(zé)任公司 、江蘇省計(jì)量科學(xué)研究院 、江蘇安科瑞電氣有限公司等。

　　本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了多回路電能表的分類、機(jī)械要求、技術(shù)和功能要求、計(jì)量性能要求及試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則及文件標(biāo)識。 其測量部分從單個測量單元入手?jǐn)U展到多個測量單元。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于在電網(wǎng)電壓不超過600 V且參比頻率為50Hz(或60Hz)，用來測量和控制電能的電測量設(shè)備，能夠測量多個電能回路有功電能的靜止式儀表， 該表多個測量單元包封在一個表殼內(nèi)或由多個測量單元有獨(dú)立的外殼組成。除電能測量功能之外所有功能單元， 如電壓/電流幅值、功率、頻率、功率因數(shù)等測量、負(fù)荷控制、數(shù)據(jù)通信接口等， 則應(yīng)符合這些功能相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)要求。

　　《穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜儀性能測試方法》

　　本標(biāo)準(zhǔn)由 TC481(全國儀器分析測試標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會)歸口 ，主管部門為科學(xué)技術(shù)部。主要起草單位全國儀器分析測試標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會 。

　　熒光光譜儀是一種常用儀器，應(yīng)用廣泛。本項(xiàng)目擬制定出穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜儀主要性能測試與評價方法標(biāo)準(zhǔn)，以適應(yīng)熒光光譜技術(shù)的新發(fā)展?fàn)顩r，改變現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)落后于技術(shù)發(fā)展的局面，推進(jìn)熒光光譜儀性能測試方法的規(guī)范化、標(biāo)準(zhǔn)化發(fā)展。

　　范圍：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜儀性能測試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于波長范圍為 200-900 nm 的穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜儀、穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀、瞬態(tài)熒光光譜儀主要性能測試與評價。 主要技術(shù)內(nèi)容：規(guī)定了波長范圍為 200-900 nm 穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜儀的波長準(zhǔn)確性、波長重復(fù)性、靈敏度、檢出限、線性、穩(wěn)定性、瞬態(tài)性能的測試與評價方法。

　　《真菌毒素快速檢測儀性能測試方法》

　　本標(biāo)準(zhǔn)由TC481(全國儀器分析測試標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會)歸口 ，主管部門為科學(xué)技術(shù)部。主要起草單位：中糧營養(yǎng)健康研究院有限公司 。

　　由于國內(nèi)快速檢測產(chǎn)品生產(chǎn)門檻低，監(jiān)管部門難以監(jiān)管，市場上流通的快速檢測產(chǎn)品質(zhì)量參差不齊，符合質(zhì)量把控的合格快檢產(chǎn)品較少。為確保在使用膠體金快速檢測儀時能夠?qū)z測物更好的定值，亟需出臺針對評價膠體金快速檢測儀檢測質(zhì)量的統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)來進(jìn)行規(guī)范。

　　本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了膠體金快速檢測儀器得評價技術(shù)規(guī)程。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于指導(dǎo)膠體金快速檢測儀器的評價。

　　《三重串聯(lián)四極桿電感耦合等離子體質(zhì)譜儀性能測試方法》

　　本標(biāo)準(zhǔn)由TC481(全國儀器分析測試標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會)歸口 ，主管部門為科學(xué)技術(shù)部。主要起草單位：全國儀器分析測試標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會 。

　　本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了三重串聯(lián)四極桿電感耦合等離子體質(zhì)譜儀基本技術(shù)性能的測定方法，適用于三重串聯(lián)四極桿電感耦合等離子體質(zhì)譜儀的性能評價。 本標(biāo)準(zhǔn)的主要技術(shù)內(nèi)容為：對背景噪聲、檢出限、靈敏度、雙電荷離子產(chǎn)率、氧化物離子產(chǎn)率、質(zhì)量穩(wěn)定性、分辨率、同位素豐度比值、短期穩(wěn)定性和長期穩(wěn)定性等基本技術(shù)性能進(jìn)行測定;并對典型元素的抗干擾能力進(jìn)行測定。