人們常常把手持式光譜儀與火花直讀光譜儀混淆,實(shí)際上,兩個(gè)在原理上有本質(zhì)的不bai同。
手持式光譜儀工作原理:
當(dāng)一束帶有足夠能量的X射線打在樣品表面原子殼內(nèi)層的電子上,這個(gè)X射線束是由手持式光譜儀內(nèi)的X射線管產(chǎn)生的,這個(gè)X射線束從手持式光譜儀前底端射出。X射線束打在樣品表面的原子殼上,電子被激發(fā)后從原子殼內(nèi)層軌道發(fā)生位移,這種位移的發(fā)生是由于從分析儀發(fā)出的X-射線束與在適當(dāng)?shù)能壍辣3蛛娮咏Y(jié)合能發(fā)出的能量差;當(dāng)X射線束的能量高于電子結(jié)合能就會(huì)發(fā)生位移。在原子中,電子以特定的能量固定在特定的位置,這就決定了它們的軌道。此外,一個(gè)原子軌道殼之間的間距是每個(gè)元素的原子的獨(dú)特之處,所以,原子鉀(K)與金(Au),或銀(Ag)相比具有不同的電子層之間的距離。
當(dāng)電子撞出軌道,留下的空位使原子不穩(wěn)定。原子必須立即被填充來糾正這個(gè)不穩(wěn)定,這些空位可以由更高的軌道上的電子移動(dòng)到一個(gè)較低的軌道。例如,如果一個(gè)電子轉(zhuǎn)移從原子內(nèi)層,從下殼體的一個(gè)電子可以向下移動(dòng),以填補(bǔ)空缺。這就是熒光。離原子核越遠(yuǎn)的電子,逃逸的能量越高。因此,當(dāng)電子從較高電子層到靠近原子核的電子層時(shí),要損失一些能量。損失的能量數(shù)與兩個(gè)電子層間的能量差相等,由兩個(gè)電子層的距離決定。對每個(gè)元素來說,兩個(gè)軌道間的距離是的,如上所述。根據(jù)能量損失可以識別這個(gè)元素,對每種元素而言,在X熒光過程中能量損失數(shù)是的。樣品中檢測到個(gè)別熒光能量是特定的,為了確定每個(gè)存在元素的數(shù)量,個(gè)別能量出現(xiàn)的比例可以通過儀器計(jì)算出來,或用其它軟件。
整個(gè)熒光過程發(fā)生在一瞬間。利用這個(gè)過程,使用手持式光光譜儀可在幾秒鐘完成。測量實(shí)際所需的時(shí)間取決于樣品的性質(zhì)和含量水平。高比例的需要幾秒,水平的可能要花費(fèi)幾分鐘。
火花直讀光譜儀工作原理:
當(dāng)金屬被能量激發(fā)時(shí),根據(jù)量子力學(xué)理論,原子的殼層電子會(huì)被激發(fā)到較高能級的外層軌道上,處于不穩(wěn)定狀態(tài)。在一定條件下,它從高能級躍遷到低能級就會(huì)發(fā)出光子,發(fā)出特征譜線。各種元素都有不同的特征譜線,這些譜線經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行分光,色散成按波長排序的一系列連續(xù)光譜,再經(jīng)過光電轉(zhuǎn)換元件把光信號直接轉(zhuǎn)換為電信號。最后計(jì)算機(jī)測量系統(tǒng)就可以通過計(jì)算某元素特征譜線的強(qiáng)度來確定元素的百分含量。
由于原理的不同,能檢測到的元素范圍也就不同。目前,據(jù)我知道,手持式光譜儀能只能檢測到Mg元素,比如布魯克的手持式光譜儀,直讀光譜儀可檢測到B元素。但是手持式光譜儀非常的小巧,輕便,快速,不需制樣,對表面無要求,無需氬氣,能攀高,能進(jìn)管道,鋰電池供電,只連續(xù)工作8小時(shí)以上。的確是直讀光譜無法比擬的。
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