激光共聚焦顯微鏡在膜厚三維形貌測量中是如何提高工作效率的？

需要在高度方向上做掃描，得到一系列的切片圖，然后進行圖像疊加并得到三維圖像，從而提高景深范圍。相對于傳統(tǒng)的光學顯微鏡，激光共聚焦顯微鏡其橫向分辨率提高40%以上，優(yōu)秀可達120nm。激光共聚焦顯微鏡樣品適用性強，非接觸測試，無需樣品制備和導電性處理，對樣品無損傷（粉末、軟性樣品以及透明樣品均可測試）。激光共聚焦顯微鏡豐富的測量結(jié)果，高分辨二維及三維成像、多種二維及三維顯示結(jié)果對比、大面積圖像拼接、非接粗糙度測量、膜厚測量、熒光分析等。簡便的操作及維護，激光共聚焦顯微鏡無昂貴的耗材、模塊化設(shè)計、人性化的操作軟件、自動校正程序等。
激光共聚焦顯微鏡在提高有效信號的基礎(chǔ)上，大大降低噪音信號，使得高質(zhì)量的熒光圖像成為可能。利用“對焦（焦點）時反射光量最大”這一共焦原理的顯微鏡測量精度，會受到正確讀取反射光量峰值的能力的較 大影響。構(gòu)成共焦光學系統(tǒng)的方式有很多。有些形狀測量激光顯微系統(tǒng)所采用的“針孔共聚焦方式”。針孔共聚焦方式是在光接收元件的前面設(shè)計了針孔。針孔的直徑僅為數(shù)十μm，其功能是在不對焦時切斷反射光。，通常的光學系統(tǒng)和激光共焦點光學系統(tǒng)的反射光均會進入光接收元件。觀察“未對焦時”，通常光學系統(tǒng)的反射光（焦點模糊光線）會進入光接收元件，但激光共焦點光學系統(tǒng)的反射光（焦點模糊光線）則會被針孔切斷。即只有在對焦時反射光才會進入光接收元件，以此為依據(jù)構(gòu)成共焦光學系統(tǒng)。
無論是材料表面形貌組織結(jié)構(gòu)分析，還是表面輪廓度，激光共聚焦顯微鏡都可以呈現(xiàn)細節(jié)清晰、高襯度的圖像。增強靈敏度，減少背景噪音是激光共聚焦顯微鏡在高端應(yīng)用的先決條件。激光共聚焦顯微鏡卓越的靈敏度、杰出的降噪音技術(shù)和激發(fā)激光技術(shù)，也能保證輸出較好的結(jié)果。
激光共聚焦顯微鏡更少的機械運動，尤其是在光譜成像時，以及更穩(wěn)定的設(shè)計，保證提供更快的、不間斷的令人信服的實驗結(jié)果。整合多個個檢測器在共聚焦中，可以可靠而無偏離的重現(xiàn)用戶的測量。平行光譜檢測可以在波長模式下同時讀出通道更多的的信號。另外，其特殊的采集模式可以將光譜分辨率大大提高。