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全自動沖擊缺口測量儀與沖擊投影儀的使用對比

作者: 2018年12月14日 來源:全球化工設(shè)備網(wǎng) 瀏覽量:
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全自動沖擊缺口測量儀與沖擊投影儀的使用對比赫鵬深圳思邁科技技術(shù)有限公司沖擊試驗對于沖擊試樣缺口要求嚴(yán)格,缺口的微小變化,都會引起試驗結(jié)果出現(xiàn)誤差,為保證加工出的沖擊試樣缺口合格,缺口的加工質(zhì)量檢驗是一

全自動沖擊缺口測量儀與沖擊投影儀的使用對比

赫鵬   深圳思邁科技技術(shù)有限公司

       沖擊試驗對于沖擊試樣缺口要求嚴(yán)格,缺口的微小變化,都會引起試驗結(jié)果出現(xiàn)誤差,為保證加工出的沖擊試樣缺口合格,缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的控制手段。目前沖擊缺口測量的有兩種方式,第一種是傳統(tǒng)的投影儀比對;第二種,是全自動沖擊缺口測量儀,準(zhǔn)確測量缺口尺寸。

概述

     隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展,越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行夏比沖擊VU型缺口沖擊試驗方法, 日前國內(nèi)很多行業(yè)如(航空航天、船舶、鍋爐壓力容器、冶金和機械)等行業(yè)已普遍s使用夏比沖擊試驗。根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和國標(biāo)GB/T229-2007《金屬材料夏比擺錘試驗方法》ASTM E23中要求沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比沖擊VU型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,是航空航天、船舶、鍋爐壓力容器、冶金和機械等部門理化實驗室的必備專用設(shè)備。滿足所有種類沖擊試樣缺口的的檢測。

    對于夏比沖擊V型缺口沖擊試驗,由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格(GB/T229-2007試樣缺口深2mm±0.075、45°角±2°且試樣缺口尖端要求R0.25±0.025mm)(ASTM E23試樣缺口深2mm±0.02545°角±1°且試樣缺口尖端要求R0.25±0.025mm),故在整個試驗過程中,試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題,如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格,那么其試驗的結(jié)果是不可信的,特別是R0.25mm缺口尖端的微小變化(其公差帶只有0.025mm),都會引起試驗結(jié)果的偏差,尤其是在試驗的臨界值時會引起產(chǎn)品報廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比沖擊V型缺口合格,其缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的質(zhì)量控制手段。用光學(xué)測量檢查是切實可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。TOP-IG是我公司根據(jù)GB/229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗方法》、ASTM E23中沖擊試樣缺口的要求與廣大用戶的實際需求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比沖擊V型和U型試樣缺口加工尺寸的專用光學(xué)測量儀器。

原理

    第一種:傳統(tǒng)的沖擊缺口投影儀,主要通過將被測試樣缺口投影到帶有模板刻度的屏上,然后調(diào)整被測試樣高度、左右等與帶有刻度的模板進行對比,判定沖擊缺口尺寸是否合格。

    第二種,全自動沖擊缺口測量儀,主要通過專用的光學(xué)系統(tǒng),將被測試樣缺口,采集到電腦顯示器上,通過SMTMeasSystem_IG測量系統(tǒng),通過特用的像素解析技術(shù),以及專用的光學(xué)系統(tǒng),將被測試樣缺口清晰輪廓顯示到顯示器上,再通過特有的技術(shù)自動捕捉輪廓,自動測量缺口尺寸。試樣擺放需刻意擺放試樣,只要將缺口放置視頻區(qū)范圍內(nèi)就可以。缺口測量只需兩部完成,擺放試樣——測量缺口。一切測量、捕捉都是系統(tǒng)自動完成,1個人測量結(jié)果和100個測量結(jié)果一樣。實現(xiàn)無人為因素影像。

產(chǎn)品優(yōu)點與缺點

    第一種傳統(tǒng)沖擊缺口投影儀,主要的優(yōu)點是價格是便宜,缺點是測量結(jié)果受人為影像很大,精確都不高。測量數(shù)據(jù)無法保存,日后無法進行核查。

    第二種,全自動沖擊缺口測量儀,缺點就是價格相對比較高,優(yōu)點,測量完全不受人為因素影響,測量精度高(0.001mm),測量數(shù)據(jù)可以以wordEXCEL、jpg等格式保存,日后核查或仲裁都可以進行復(fù)查測量。

適用行業(yè)

     沖擊缺口測量分析儀適用于廣大冶金、航空航天、兵器、船舶、壓力容器、和工程機械制及科研等部門理化實驗室的必備專用設(shè)備。

    該儀器還可用于機械零部件的外形輪廓、角度、半徑、長度、紡織物纖維、生物切片分析、工量刃具的檢驗、儀表元件和半導(dǎo)體元件的測量檢測。滿足標(biāo)準(zhǔn)GB/T 229-2007 ASTM E23-2002a等技術(shù)要求。

 

技術(shù)參數(shù)

1 放大倍數(shù):50倍;

2 視場范圍:20mm;

3 工作臺尺寸:

方工作臺:300×200mm

4、 儀器放大倍率:100

5、測量精度

    分辨率:0.001mm

6、 光源(機器視覺裝用LED):5v8W

7、 電源:220V/10W

8、 外形尺寸:200×300×350mm(長××高);

9、重量:約5kg

 

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