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什么是偏光顯微鏡？

作者： 2018年08月31日 來源：全球化工設(shè)備網(wǎng) 瀏覽量：
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偏光顯微鏡是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質(zhì)，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當(dāng)然這些物質(zhì)也可用染色法來進(jìn)行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡?！　?.偏光顯微
　　偏光顯微鏡是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質(zhì)，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當(dāng)然這些物質(zhì)也可用染色法來進(jìn)行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡。
 
　　1. 偏光顯微鏡的特點
 
　　將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法，以鑒別某一物質(zhì)是單折射(各向同行)或雙折射性(各向異性)。雙折射性是晶體的基本特性。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、化學(xué)等領(lǐng)域，在生物學(xué)和植物學(xué)也有應(yīng)用。
 
　　2. 偏光顯微鏡的基本原理
 
　　偏光顯微鏡的原理比較復(fù)雜，在此不作過多介紹,偏光顯微鏡必須具備以下附件：起偏鏡，檢偏鏡，補償器或相位片，專用無應(yīng)力物鏡，旋轉(zhuǎn)載物臺。
 
　　3.偏光鏡檢術(shù)的方式
 
　　正相鏡檢(Orthscope):又稱無畸變鏡檢，其特點是使用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡(Bertrand Lens), 被研究對象可直接用偏振光研究。同時為使照明孔徑變小，推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性。
 
　　錐光鏡檢(Conoscope)：又稱干涉鏡檢，研究在偏振光干涉時產(chǎn)生的干涉圖樣，這種方法用于觀察物體的單軸或雙軸性。在該方法中，用強(qiáng)會聚偏振光束照明。
 
　　4. 偏光顯微鏡在裝置上的要求
 
　　a. 光源：應(yīng)該采用單色光，由于光的速度，折射率，和干涉現(xiàn)象由于波長的不同而有差異。一般鏡檢可使用普通光。
 
　　b. 目鏡：要帶有十字線的目鏡。
 
　　c. 聚光鏡：為了取得平行偏光，應(yīng)使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。
 
　　d. 伯特蘭透鏡：聚光鏡光路中的輔助部件，這是把物體所有造成的低級相放大為次級相的輔助透鏡。它可保證用目鏡來觀察在物鏡后焦平面中形成的平涉圖樣。
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