環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)

一、 概況
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗(yàn)方法，隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國(guó)民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，環(huán)境試驗(yàn)方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實(shí)施，這就需要有質(zhì)量上乘，性能合格的試驗(yàn)設(shè)備，而要達(dá)到這一要求，就需有一個(gè)統(tǒng)一衡量試驗(yàn)設(shè)備尺度即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)，以及環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。
二、 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)共有九項(xiàng)：
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10587-89 鹽霧試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10588-89 長(zhǎng)霉試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10590-89 低溫/低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10591-89 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10592-89 高、低溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB11159-89 低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
2、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中的共性問(wèn)題
1)適用范圍
在上述的九項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)中都明確規(guī)定了本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的所有廠家，對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)所對(duì)應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗(yàn)、型式檢驗(yàn)、質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)時(shí)作為依據(jù)。
2)適應(yīng)性
按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)合格的產(chǎn)品，其性能要符合相對(duì)應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求，按其檢驗(yàn)要求檢測(cè)合格的產(chǎn)品方可出廠。
3)操作性
設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)在貫徹實(shí)施過(guò)程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時(shí)，該類標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。
4)修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的不足之處
九項(xiàng)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)起草于上世紀(jì)八十年代，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求，修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是必須的。

3、貫徹執(zhí)行過(guò)程中的注意事項(xiàng)
1)對(duì)基本環(huán)境條件的要求，綜合在一起主要有下列幾項(xiàng)
A)溫度：15℃~35℃
B)相對(duì)濕度：不大于85%RH
C)大氣壓強(qiáng)：86Kpa~106Kpa
D)熱輻射：無(wú)陽(yáng)光起直射，無(wú)熱源直接輻射
E)氣流：無(wú)強(qiáng)烈氣流，需要時(shí)不可直接吹到箱體上
F)電磁場(chǎng)：無(wú)強(qiáng)烈電磁場(chǎng)
G)三廢：無(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
H)冷卻水源：水溫不大于30℃，水壓控制在0.1~0.3Mpa
I)加濕水源：電阻率不低于500Ωm
J)電源：220±22V 、380±38V、50±0.5Hz
2)負(fù)載要求：
A)負(fù)載品種：一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等(鹽霧試驗(yàn)除外)
B)負(fù)載條件：
-------負(fù)載總質(zhì)量：50~80Kg/m3
-------負(fù)載總體積：不大于工作室容積的1/5
-------阻擋主風(fēng)道總面積：不大于主風(fēng)道所處工作室截面積的1/3
-------鹽霧試驗(yàn)設(shè)備：規(guī)格：50＊100＊(1~2)mm
-------種類：金屬
-------樣品數(shù)：160塊/m2(工作室水平面面積計(jì))

三、 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)(氣候試驗(yàn)設(shè)備)
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)共有六項(xiàng)：
GB/T5170.2----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.8----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.9----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.10---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.11---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
2、方法標(biāo)準(zhǔn)的幾個(gè)共同問(wèn)題
1)標(biāo)準(zhǔn)適用范圍：在六項(xiàng)方法標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了該類標(biāo)準(zhǔn)是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)檢定項(xiàng)目的確定，檢測(cè)儀器的選用，以及檢定條件、測(cè)試點(diǎn)數(shù)量、布點(diǎn)位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。
2)適應(yīng)性：按方法標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)合格的設(shè)備，可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進(jìn)行相關(guān)的環(huán)境試驗(yàn)。
3)操作性：本類標(biāo)準(zhǔn)在環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備使用單位應(yīng)用居多，試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)廠應(yīng)用為少。
3、貫徹執(zhí)行過(guò)程中的幾個(gè)注意點(diǎn)：
1)各分標(biāo)準(zhǔn)使用時(shí)應(yīng)與總則一起使用。
2)對(duì)于復(fù)合試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準(zhǔn)及總則一起使用
3)檢定條件：由總則規(guī)定，其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)相一致。
4)負(fù)載要求：由總則規(guī)定，其內(nèi)容按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中規(guī)定保持一致。 
 

四、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)與檢定方法標(biāo)準(zhǔn)差異辨析

五、設(shè)備極其參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)與試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)選擇
1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗(yàn)方法確定環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的種類，現(xiàn)行設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是一種產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)一類設(shè)備，可作多種試驗(yàn)的復(fù)合試驗(yàn)箱需執(zhí)行多個(gè)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。
2、根據(jù)試驗(yàn)方法要求，對(duì)設(shè)備進(jìn)行周期檢定時(shí)，可選用一個(gè)或多個(gè)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢定。
3、幾種常用的不同試驗(yàn)方法所需設(shè)備的檢定方法標(biāo)準(zhǔn)

六、        進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)過(guò)程中的幾個(gè)注意點(diǎn)
1、合理選擇設(shè)備溫濕度范圍及控制精度
2、注意受試品的體積、重量及擋風(fēng)橫截對(duì)設(shè)備主性能的影響
3、設(shè)備安置場(chǎng)所環(huán)境條件
4、適當(dāng)選擇試驗(yàn)的嚴(yán)酷度
七、        結(jié)束語(yǔ)
通過(guò)對(duì)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)的初步分析，兩類標(biāo)準(zhǔn)各自有其獨(dú)立性，但相互之間又具有一定的關(guān)聯(lián)性。因此，準(zhǔn)確理解兩類標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍，熟悉兩類標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容的根本差異，是我們準(zhǔn)確貫徹、切實(shí)執(zhí)行兩類標(biāo)準(zhǔn)的前提。愿我們?cè)诮窈蟮氖聵I(yè)中為貫徹執(zhí)行好這兩類標(biāo)準(zhǔn)而共同努力。

附1　環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)對(duì)測(cè)試用負(fù)載條件

匯　　總　　表

附2　我國(guó)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中設(shè)備使用基本環(huán)境條件

對(duì)照表