【中國(guó)儀表網(wǎng) 儀表新品】2017年7月,日本電子發(fā)布新的STEM(掃描透射電子顯微鏡)探測(cè)器“4DCanvas”。
作為一種新穎的新型探測(cè)器,“4DCanvas”可以記錄所有傳輸、衍射和散射電子的位置和強(qiáng)度,作為STEM圖像的每個(gè)像素的二維(2D)圖案。
該像素化檢測(cè)器的傳感器是具有264×264像素的直接電子檢測(cè)CCD。換句話說(shuō),這是一款高靈敏度的多通道檢測(cè)器。該檢測(cè)器的記錄數(shù)據(jù)為4維(4D),其軸為STEM像素位置的x和y,檢測(cè)器像素位置為u&v。
預(yù)計(jì)未來(lái)“4DCanvas”的潛在應(yīng)用會(huì)增加,“4DCanvas”的研發(fā)將為電子顯微鏡的用戶(hù)提供一個(gè)平臺(tái),就像在畫(huà)布上自由繪制地圖一樣。
(原標(biāo)題:日本電子發(fā)布新型STEM探測(cè)器“4DCanvas”)