國(guó)內(nèi)首個(gè)80納米STT-MRAM器件制備成功

作者: 2017年05月09日 來(lái)源: 瀏覽量:
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近日,北京航空航天大學(xué)與中國(guó)科學(xué)院微電子研究所聯(lián)合成功制備國(guó)內(nèi)首個(gè)80納米自旋轉(zhuǎn)移矩——磁隨機(jī)存儲(chǔ)器芯片(STT-MRAM)器件。   STT-MRAM是一種極具應(yīng)用潛力的下一代新型存儲(chǔ)器解決方案。由于采用

  近日,北京航空航天大學(xué)與中國(guó)科學(xué)院微電子研究所聯(lián)合成功制備國(guó)內(nèi)首個(gè)80納米自旋轉(zhuǎn)移矩——磁隨機(jī)存儲(chǔ)器芯片(STT-MRAM)器件。

  STT-MRAM是一種極具應(yīng)用潛力的下一代新型存儲(chǔ)器解決方案。由于采用了大量的新材料、新結(jié)構(gòu),加工制備難度極大。當(dāng)前,美韓日三國(guó)在該項(xiàng)技術(shù)上全面領(lǐng)先,很有可能在繼硬盤(pán)、DRAM及閃存等存儲(chǔ)芯片之后再次實(shí)現(xiàn)對(duì)我國(guó)100%的壟斷。微電子所集成電路先導(dǎo)工藝研發(fā)中心研究員趙超與北京航空航天大學(xué)教授趙巍勝的聯(lián)合團(tuán)隊(duì)通過(guò)3年的攻關(guān),在STT-MRAM關(guān)鍵工藝技術(shù)研究上實(shí)現(xiàn)了重要突破,在國(guó)內(nèi)首次采用可兼容CMOS工藝成功制備出直徑80nm的磁隧道結(jié),器件性能良好,其中器件核心參數(shù)包括隧穿磁阻效應(yīng)達(dá)到92%,可實(shí)現(xiàn)純電流翻轉(zhuǎn)且電流密度達(dá)到國(guó)際領(lǐng)先水平。

  在北京市科委的大力支持下,該工作完全采用了可兼容傳統(tǒng)CMOS集成電路的工藝方法和流程,具備向產(chǎn)品化、產(chǎn)業(yè)化轉(zhuǎn)移的條件,對(duì)我國(guó)存儲(chǔ)器產(chǎn)業(yè)的技術(shù)突破形成了具有實(shí)際意義的推動(dòng)作用。

1. STT-MRAM存儲(chǔ)芯片器件原理圖

2. 直徑80nm MTJ器件俯視圖

 

3. 直徑80nm MTJ器件 

4. TMR效應(yīng)測(cè)試結(jié)果

圖5. STT效應(yīng)測(cè)試結(jié)果

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