兩臺(tái)“特殊”質(zhì)譜儀落戶(hù)核工業(yè)北京地質(zhì)研究院

 核工業(yè)北京地質(zhì)研究院分析測(cè)試研究中心是以核能材料、放射性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的制備、地質(zhì)礦產(chǎn)和環(huán)境分析測(cè)試技術(shù)研究與服務(wù)為主的綜合性檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室技術(shù)機(jī)構(gòu)，也是核工業(yè)地質(zhì)行業(yè)的仲裁分析測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，是地質(zhì)行業(yè)同位素分析、微束分析等領(lǐng)域的權(quán)威機(jī)構(gòu)。

 核工業(yè)北京地質(zhì)研究院分析測(cè)試研究中心采購(gòu)了兩臺(tái)特殊的質(zhì)譜儀，今年兩臺(tái)設(shè)備同時(shí)到貨、安裝。一臺(tái)是法國(guó)CAMECA公司的IMS 1280-HR高分辨二次離子質(zhì)譜儀，另一臺(tái)是TESCAN公司的雙束聚焦離子束與飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜聯(lián)用系統(tǒng)。

 CAMECA公司工程師正在調(diào)試設(shè)備

 TESCAN公司專(zhuān)家正在進(jìn)行應(yīng)用培訓(xùn)

 之所以采購(gòu)兩臺(tái)二次離子質(zhì)譜，是因?yàn)楦叻直尜|(zhì)譜儀以極佳的檢出限以及超高的分辨能力和精度著稱(chēng)，但成像及原位分析能力較差;而聯(lián)用系統(tǒng)是掃描電鏡(SEM)、聚焦離子束(FIB)和飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS)，三者的結(jié)合，具有SEM的二維高分辨成像和成分、結(jié)構(gòu)等分析能力，結(jié)合FIB的微區(qū)分析與加工能力，實(shí)現(xiàn)成分和結(jié)構(gòu)的三維分析;FIB與TOF-SIMS的聯(lián)用，相比于大型質(zhì)譜儀具有更高的空間分辨率、更快速的成像速度、更優(yōu)異的成像能力，同時(shí)操作也更簡(jiǎn)單靈活。整套聯(lián)用系統(tǒng)可同時(shí)進(jìn)行原位超輕元素、同位素分析能力，此外還可以對(duì)元素、同位素等進(jìn)行二維、三維成像分析。

 TESCAN公司在電子顯微鏡和聚焦離子束領(lǐng)域有多項(xiàng)創(chuàng)新，是掃描電子顯微鏡與拉曼光譜儀聯(lián)用技術(shù)、聚焦離子束與飛行時(shí)間質(zhì)譜儀聯(lián)用技術(shù)以及氙等離子聚焦離子束技術(shù)的開(kāi)拓者，也是行業(yè)領(lǐng)域的技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者。

 這是國(guó)內(nèi)首套雙束聚焦離子束與飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜聯(lián)用系統(tǒng)，TESCAN十分重視和核工業(yè)北京地質(zhì)研究院的合作。

 TESCAN公司表示，他們將繼續(xù)跟蹤雙束聚焦離子束與飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜聯(lián)用系統(tǒng)的最新應(yīng)用進(jìn)展，分多個(gè)篇幅進(jìn)行介紹，也歡迎感興趣的用戶(hù)前來(lái)參觀和交流。