復(fù)合型X射線熒光光譜儀驚艷亮相國際實驗室儀器展覽會

作者： 2017年03月30日 來源：互聯(lián)網(wǎng) 瀏覽量：
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2017年3月5~9日，第68屆匹茲堡國際實驗室儀器展覽會在美國芝加哥展覽中心舉行。地調(diào)局實驗測試中心、北京鋼研納克檢測技術(shù)有限公司、地調(diào)局南京地調(diào)中心等共同自主研發(fā)的CNX-808WE波譜-能譜復(fù)合型X射線熒光光譜儀驚

　　2017年3月5~9日，第68屆匹茲堡國際實驗室儀器展覽會在美國芝加哥展覽中心舉行。地調(diào)局實驗測試中心、北京鋼研納克檢測技術(shù)有限公司、地調(diào)局南京地調(diào)中心等共同自主研發(fā)的CNX-808WE波譜-能譜復(fù)合型X射線熒光光譜儀驚艷亮相，受到眾多專家學(xué)者的關(guān)注。

　　該儀器集波譜、能譜、微X射線分析于一身，集成了波譜和能譜的優(yōu)點，擴(kuò)展了X射線熒光光譜儀的分析領(lǐng)域，搭建了從厘米級總體分析到毫米級分布分析的橋梁。

　　許多參加展會的客商，對CNX-808WE波譜-能譜復(fù)合型X射線熒光光譜儀表示了極大的興趣，并現(xiàn)場進(jìn)行了詳細(xì)咨詢。通過這次參展，不僅了解到了儀器行業(yè)的最新行情，開拓了國際視野，為今后的儀器研發(fā)工作帶來了新的理念，更有助于該項成果的市場化。

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