合肥研究院在銀納米線透明導(dǎo)電薄膜研究方面取得系列進(jìn)展

　　近期，中國科學(xué)院合肥物質(zhì)科學(xué)研究院固體物理研究所微納技術(shù)與器件研究室研究員葉長輝團(tuán)隊在高品質(zhì)銀納米線透明導(dǎo)電薄膜研究方面取得系列進(jìn)展，相關(guān)結(jié)果分別發(fā)表在ACS Appl. Mater. Interfaces、J. Mater. Chem. C (該文章被選為J. Mater. Chem. C 雜志的封面論文和2017熱點論文)、CrystEngComm上，并申請了國家發(fā)明專利兩項。

　　銀納米線透明導(dǎo)電薄膜兼具優(yōu)異的導(dǎo)電性、可見光透過性和柔韌性，已經(jīng)成為傳統(tǒng)透明導(dǎo)電薄膜材料氧化銦錫(ITO)的有力競爭者，有望在柔性電子器件中逐漸替代ITO材料。然而，目前限制銀納米線透明導(dǎo)電薄膜實際應(yīng)用的瓶頸問題不是其導(dǎo)電性差和可見光透過率低，而是方塊電阻的均勻性差和霧度大，而解決這兩個問題的關(guān)鍵在于能否得到性能優(yōu)異、穩(wěn)定的涂布液。目前，國際上相關(guān)領(lǐng)域的研究主要集中于提高薄膜的導(dǎo)電性和可見光透過率，而對薄膜方塊電阻的均勻性以及霧度過大的問題關(guān)注的并不多，特別是針對涂布液性能的研究報道非常少，嚴(yán)重制約了銀納米線在主流電子產(chǎn)品中的規(guī)?；瘧?yīng)用。

　　葉長輝團(tuán)隊針對方塊電阻的均勻性差和霧度大兩個問題開展了深入研究，取得了系列進(jìn)展。研究人員首先提出采用抑制二次成核的新方法，獲得了含顆粒較少的超細(xì)(直徑<20nm)、超大長徑比(長徑比>1500)的銀納米線(CrystEngComm. 2017, 19, 148-153)；進(jìn)而通過膠體穩(wěn)定性理論，設(shè)計了尺寸篩分方法，獲得了尺寸分布窄、純度高的銀納米線(J. Mater. Chem. C 2017, 5, 2240-2246)；通過對銀納米線進(jìn)行表面化學(xué)修飾，獲得了可長期穩(wěn)定分布于溶劑中(可存儲半年以上)的高濃度(濃度為5mg/ml)銀納米線涂布液(RSC Adv. 2017, 7, 1926-1942)；并通過分析薄膜涂布中的傳質(zhì)和傳熱過程，提出了動態(tài)紅外加熱方法，最終獲得方塊電阻均勻(電阻不均勻性小于5%)、霧度低(霧度小于0.8%)的高品質(zhì)銀納米線透明導(dǎo)電薄膜(可見光透過率>91%，方塊電阻<75Ω/□) (ACS Appl. Mater. Interfaces 2016, 8, 9865-9871)。上述研究成果為獲取性能優(yōu)異銀納米線透明導(dǎo)電薄膜提供了新的制備思路，也為其實現(xiàn)在柔性電子器件的實際應(yīng)用奠定了良好的研究基礎(chǔ)。

　　以上研究得到了國家自然科學(xué)基金和企業(yè)合作研發(fā)項目的資助。

圖1 銀納米線及透明導(dǎo)電薄膜光、電、均勻性及應(yīng)用實例

圖2 高品質(zhì)銀納米線透明導(dǎo)電薄膜(論文封面圖)