昆明理工“飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀”將正式投用

  作為目前前沿的用于表面成分分析的科學(xué)裝置之一，飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀因具有分辨率高、靈敏度高、分析速度快、測(cè)量范圍寬、樣品消耗少等特點(diǎn)，無論在分析化學(xué)、環(huán)境科學(xué)，還是在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，都得到了越來越廣泛的應(yīng)用。3月15日，昆明理工大學(xué)資產(chǎn)管理處組織專家組，對(duì)飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（TOF.SIMS-5）進(jìn)行驗(yàn)收。

 在逐一核實(shí)設(shè)備部件，配件型號(hào)、數(shù)量，質(zhì)量分析器的動(dòng)態(tài)離子能量擴(kuò)展技術(shù)（EDR）后，專家組認(rèn)為，該設(shè)備安裝齊全，設(shè)備性能和EDR指標(biāo)均已達(dá)到合同指標(biāo)，通過終極驗(yàn)收。同時(shí)，專家組在設(shè)備的維護(hù)和管理、設(shè)備性能的開發(fā)利用等方面提出了一些意見和建議。截止目前，學(xué)校單價(jià)500萬(wàn)元以上的儀器設(shè)備已達(dá)到5臺(tái)套。

 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（TOF.SIMS-5）主要用于礦物表面深度剖析、表面化學(xué)藥劑吸附層厚度、表面微量組分、表面有機(jī)物吸附推測(cè)、表面3D表征及成像等表面微觀研究。在進(jìn)一步熟練設(shè)備操作和性能后，TOF.SIMS-5將正式投入使用，在礦物加工工程、礦物學(xué)、材料學(xué)、生命科學(xué)等專業(yè)的實(shí)驗(yàn)教學(xué)與科研工作中發(fā)揮積極作用。