高低溫低氣壓試驗(yàn)箱的用途及相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)

作者： 2015年07月16日 來源： 瀏覽量：
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高低溫低氣壓試驗(yàn)箱是為電子工業(yè)、國防、航空航天及科研院所確定電子產(chǎn)品(包括元器件、材料設(shè)備、整機(jī))在高低溫低氣壓同時(shí)作用下，考核產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的專用設(shè)備，同時(shí)可進(jìn)行電氣性能參數(shù)測量以及貯運(yùn)和使用的適應(yīng)
    高低溫低氣壓試驗(yàn)箱是為電子工業(yè)、國防、航空航天及科研院所確定電子產(chǎn)品(包括元器件、材料設(shè)備、整機(jī))在高低溫低氣壓同時(shí)作用下，考核產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的專用設(shè)備，同時(shí)可進(jìn)行電氣性能參數(shù)測量以及貯運(yùn)和使用的適應(yīng)能力的多種試驗(yàn)。為了模擬3000m高空時(shí)的溫度和壓力，使其性能指標(biāo)更接近高空環(huán)境，因而對這一類型的高低溫低氣壓試驗(yàn)箱提出很高的要求。國標(biāo)GB11159-2010《低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件》和GB10591-2006《高溫 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件》及GB10590-2006《高低溫低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件》中對此都有明確規(guī)定。
　　回顧以往的高低溫低氣壓試驗(yàn)箱是溫度試驗(yàn)與壓力試驗(yàn)分開進(jìn)行的，先做溫度試驗(yàn)而后再做壓力試驗(yàn)。由于設(shè)計(jì)時(shí)的局限，做壓力試驗(yàn)時(shí)造成低溫溫度回升15℃～20℃，滿足不了試件對試驗(yàn)設(shè)備的技術(shù)要求，與真正的高空環(huán)境有誤差。
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