跌落試驗機(jī)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)與規(guī)范
本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn)IEC 68-2-32(1975年第二版)《基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落》、1982年的第一次修改和1990年的第二次修改。
本標(biāo)準(zhǔn)代替GB 2423.8—81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ed:自由跌落試驗方法》和GB 2424.6—81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 自由跌落試驗導(dǎo)則》。
GB 2423.8—81和GB 2424.6—81是參照IEC 68-2-32(1975年第二版)《基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落》起草的。
本標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)內(nèi)容、編寫格式和規(guī)則上都與IEC 68-2-32(1975)、1982年的第一次修改文本,1990年的第二次修改文本完全相同。本標(biāo)準(zhǔn)與前版的主要區(qū)別在于:
將GB 2423.8和GB 2424.6兩個標(biāo)準(zhǔn)合并成一個標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.8;
按IEC 68-2-32,1982年和1990年的兩次修改,對方法二和附錄A作了修改,補(bǔ)充了附錄B。
下列四項標(biāo)準(zhǔn)與本標(biāo)準(zhǔn)均屬撞擊試驗范疇,有關(guān)規(guī)范應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的使用和運輸?shù)木唧w情況選擇合適的試驗方法。
GB/T 2423.5—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊;
GB/T 2423.6—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞;
GB/T 2423.7—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品);
GB 2423.39—1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ee:彈跳試驗方法。
標(biāo)簽:
相關(guān)技術(shù)