薄晶體
《微束分析 薄晶體厚度的會(huì)聚束電子衍射測(cè)定方法》意見(jiàn)征求(2020-07-15)
閱讀《微束分析 薄晶體厚度的會(huì)聚束電子衍射測(cè)定方法》征求意見(jiàn)稿后可知,標(biāo)準(zhǔn)與GB/T 20724-2006相比,主要變化如下:增加了規(guī)范性引用文件;補(bǔ)充修訂了術(shù)語(yǔ)和定義;增加了符號(hào)和縮略語(yǔ);儀器設(shè)備和分析…[詳情]
薄晶體
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