微束分析
《微束分析 薄晶體厚度的會(huì)聚束電子衍射測(cè)定方法》意見征求(2020-07-15)
閱讀《微束分析 薄晶體厚度的會(huì)聚束電子衍射測(cè)定方法》征求意見稿后可知,標(biāo)準(zhǔn)與GB/T 20724-2006相比,主要變化如下:增加了規(guī)范性引用文件;補(bǔ)充修訂了術(shù)語和定義;增加了符號(hào)和縮略語;儀器設(shè)備和分析…[詳情]
全國(guó)微束分析標(biāo)委會(huì)表面化學(xué)分委員會(huì)年會(huì)召開(2018-05-15)
【中國(guó)化工儀器網(wǎng)行業(yè)動(dòng)態(tài)】4月26日至27日,全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)表面化學(xué)分析分技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC38/SC2,以下簡(jiǎn)稱表面化學(xué)分委)2018年年會(huì)在中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院(簡(jiǎn)稱中國(guó)計(jì)量院)北京市昌…[詳情]