2016年火花光電直讀光譜儀發(fā)展前景淺析(2016-07-22)

火花光電直讀光譜儀是在傳統(tǒng)元素分析儀的基礎(chǔ)上進(jìn)行大幅度的改進(jìn)，具有更廣泛的應(yīng)用前景。傳統(tǒng)元素分析儀波長(zhǎng)精度不高，這一先天性缺陷在火花光電直讀光譜儀這里得到改善，但并不是完全解決。這種先…[詳情]

光電所在納米級(jí)高精度測(cè)量系統(tǒng)方法研究中取得新進(jìn)展(2016-07-14)

中國(guó)科學(xué)院光電技術(shù)研究所微電子裝備總體研究室在納米級(jí)高精度檢焦系統(tǒng)方法研究中取得新進(jìn)展：提出了一種雙光路光強(qiáng)調(diào)制光柵檢焦方法，該方法利用兩光路的信號(hào)比求解硅片的離焦量，消除了光強(qiáng)波動(dòng)…[詳情]

探訪我國(guó)第一臺(tái)真空型光電直讀光譜儀發(fā)展歷程(2016-07-12)

直讀光譜儀根據(jù)光柵所處的環(huán)境不同可以有不同的劃分方法，可分為真空型和非真空型直讀光譜儀。其中非真空型直讀光譜儀又可分為空氣型直讀光譜儀（無(wú)法測(cè)定真空紫外波段的C、P、S、As等元素含量）和充惰…[詳情]

中科院光電所：“光學(xué)扳手”鏡頭可以更輕薄(2016-06-29)

未來(lái)的顯微鏡、望遠(yuǎn)鏡甚至相機(jī)鏡頭，或許不再需要復(fù)雜、笨重的鏡頭組，僅通過納米級(jí)厚度的平面薄膜，便可完成光的聚焦、偏轉(zhuǎn)等控制。 　　 　日前從中科院光電技術(shù)研究所（以下簡(jiǎn)稱光電所）獲悉，在國(guó)家973項(xiàng)…[詳情]

提高石墨烯的吸光性在光電領(lǐng)域應(yīng)用具有重要意義(2016-06-29)

前伊利諾伊大學(xué)厄本那香檳分校的研究人員通過實(shí)驗(yàn)證實(shí)改變石墨烯表面的應(yīng)力，使其表面產(chǎn)生“褶皺”結(jié)構(gòu)，增大面密度，可以提高石墨烯的吸光性，這對(duì)于石墨烯在光電領(lǐng)域的應(yīng)用具有重要意義…[詳情]

首臺(tái)臨床（pet）機(jī)器在武漢光電實(shí)驗(yàn)室研發(fā)成功(2016-06-29)

首臺(tái)適用于人體臨床的“全數(shù)字正電子發(fā)射斷層成像（pet）”機(jī)器，日前在武漢光電國(guó)家實(shí)驗(yàn)室（籌）研制成功。這臺(tái)基于自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)技術(shù)的人體臨床“全數(shù)字pet”，其空間分辨率等核…[詳情]

專家研究新型等離子材料成功應(yīng)用于紅外光電探測(cè)器(2016-06-29)

合肥工業(yè)大學(xué)電子科學(xué)與應(yīng)用物理學(xué)院羅林保教授領(lǐng)導(dǎo)的微納功能材料與器件實(shí)驗(yàn)室，首次將重?fù)诫s金屬氧化物這一新型表面等離子材料應(yīng)用到紅外光電探測(cè)器中，有效解決了現(xiàn)有元器件光吸收不足的問題，…[詳情]

光電所在碳納米管增強(qiáng)反應(yīng)燒結(jié)碳化硅復(fù)合材料研究中取得進(jìn)展(2016-06-22)

空間應(yīng)用技術(shù)的發(fā)展對(duì)空間光學(xué)系統(tǒng)提出更高的要求，近幾年，碳化硅反射鏡的發(fā)展格外引人注目。碳化硅陶瓷本身具有較大脆性，增韌補(bǔ)強(qiáng)反應(yīng)燒結(jié)碳化硅復(fù)合材料是其得以在苛刻的空間環(huán)境中更為廣泛應(yīng)用…[詳情]

鐵電局域場(chǎng)增強(qiáng)納米線光電探測(cè)器研究獲進(jìn)展(2016-06-17)

近日，中國(guó)科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所紅外物理國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室胡偉達(dá)研究員、武漢大學(xué)物理學(xué)院廖蕾教授等研究人員在鐵電局域場(chǎng)增強(qiáng)納米線光電探測(cè)器研究取得進(jìn)展，相關(guān)成果以“WhenNanowiresMe…[詳情]

光電所在高精度平面絕對(duì)檢測(cè)研究中取得新進(jìn)展(2016-06-08)

中國(guó)科學(xué)院光電技術(shù)研究所先進(jìn)光學(xué)研制中心在高精度平面絕對(duì)檢測(cè)研究中取得新進(jìn)展：首次提出了一種通用的平面絕對(duì)檢測(cè)方法，該方法采用逆向迭代優(yōu)化算法求解絕對(duì)檢測(cè)模型，具有簡(jiǎn)單、快速、準(zhǔn)確求解…[詳情]